掃頻測試法測試放大器幅頻特性曲線
發(fā)布時(shí)間:2013/9/16 21:14:07 訪問次數(shù):5214
點(diǎn)頻法測試頻率特性的優(yōu)點(diǎn)是可以采用常用的簡單儀器進(jìn)行測試,BTB06-600S測量精度和工作量與測試點(diǎn)的選擇數(shù)量有關(guān),測試點(diǎn)少,精度不夠高;測試點(diǎn)多,工作量大。而且點(diǎn)頻法不能反映電路的動(dòng)態(tài)幅頻特性。掃頻測試法是在點(diǎn)頻測試法的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種測試方法,采用掃頻儀可以在熒光屏上直接顯示出幅頻特性曲線,掃頻測法的測試電路框圖如圖5.3. 17所示。
掃頻儀的輸出信號的頻率從低到高重復(fù)變化,并保持輸出信號的幅度在任何頻率下都不變,這個(gè)幅度不變、頻率不斷重復(fù)變化的輸出信號被送到被測放大器的輸入端,由于被測放大器對不同頻率信號的放大倍數(shù)不同,因而在被測放大器的輸出端得到的信號波形幅度大小是不同的,輸出信號波形的包絡(luò)的變化規(guī)律與被測放大器的幅頻特性相一致,被測放大器的輸出信號輸入到掃頻儀,經(jīng)過包絡(luò)(峰值)檢波器取出的包絡(luò)線信號即是被測放大器的幅頻特性,這個(gè)信號經(jīng)過垂直放大器放大后加到示波管的垂直偏轉(zhuǎn)頻特性曲線,從熒光屏上可以直接讀出上下截止頻率。
圖5. 3.17掃頻儀測試幅頻特性的連接電路
點(diǎn)頻法測試頻率特性的優(yōu)點(diǎn)是可以采用常用的簡單儀器進(jìn)行測試,BTB06-600S測量精度和工作量與測試點(diǎn)的選擇數(shù)量有關(guān),測試點(diǎn)少,精度不夠高;測試點(diǎn)多,工作量大。而且點(diǎn)頻法不能反映電路的動(dòng)態(tài)幅頻特性。掃頻測試法是在點(diǎn)頻測試法的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種測試方法,采用掃頻儀可以在熒光屏上直接顯示出幅頻特性曲線,掃頻測法的測試電路框圖如圖5.3. 17所示。
掃頻儀的輸出信號的頻率從低到高重復(fù)變化,并保持輸出信號的幅度在任何頻率下都不變,這個(gè)幅度不變、頻率不斷重復(fù)變化的輸出信號被送到被測放大器的輸入端,由于被測放大器對不同頻率信號的放大倍數(shù)不同,因而在被測放大器的輸出端得到的信號波形幅度大小是不同的,輸出信號波形的包絡(luò)的變化規(guī)律與被測放大器的幅頻特性相一致,被測放大器的輸出信號輸入到掃頻儀,經(jīng)過包絡(luò)(峰值)檢波器取出的包絡(luò)線信號即是被測放大器的幅頻特性,這個(gè)信號經(jīng)過垂直放大器放大后加到示波管的垂直偏轉(zhuǎn)頻特性曲線,從熒光屏上可以直接讀出上下截止頻率。
圖5. 3.17掃頻儀測試幅頻特性的連接電路
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