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一種模一數(shù)轉(zhuǎn)換的方法

發(fā)布時(shí)間:2013/11/7 20:36:42 訪問(wèn)次數(shù):811

    在A/D轉(zhuǎn)換中,在一個(gè)給定點(diǎn)上對(duì)模擬波形進(jìn)行采樣,AD9280ARSZ然后將采樣值轉(zhuǎn)換為一個(gè)二進(jìn)制數(shù)。因?yàn)橥瓿赊D(zhuǎn)換要占用一定的時(shí)間區(qū)間,所以在一個(gè)給定時(shí)間間隔內(nèi)對(duì)模擬信號(hào)的采樣次數(shù)是受限制的。例如,如果某個(gè)ADC在l ms時(shí)間內(nèi)完成一次轉(zhuǎn)換,那么它在Is內(nèi)可以進(jìn)行1000次轉(zhuǎn)換。也就是說(shuō),在Is的時(shí)間間隔內(nèi),它可以將1000個(gè)不同的模擬數(shù)值轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式。
    為了再現(xiàn)一個(gè)模擬電壓波形,采樣速率必須大于模擬信號(hào)最高頻率分量的2倍。采樣速率的這個(gè)理論上的最小極限稱為奈奎斯特( Nyquist)速率或頻率。在奈奎斯特速率上,模擬信號(hào)在每個(gè)周期內(nèi)被采樣并轉(zhuǎn)換兩次。不過(guò)在實(shí)際中,在一個(gè)周期內(nèi)必須對(duì)信號(hào)采樣兩次以上。很明顯,在每個(gè)周期內(nèi)對(duì)模擬信號(hào)的采樣次數(shù)越多,對(duì)模擬信號(hào)的再現(xiàn)就越準(zhǔn)確。圖21. 35中對(duì)與兩個(gè)不同采樣速率的圖形對(duì)此進(jìn)行了說(shuō)明。從圖中可以見到,較高采樣速率產(chǎn)生一個(gè)更準(zhǔn)確的結(jié)果。
    圖21.35  兩個(gè)采樣速率的圖示

          
    一種模一數(shù)轉(zhuǎn)換的方法
    有幾種方法可用于模一數(shù)轉(zhuǎn)換,在此只簡(jiǎn)單地介紹一種叫做同步法或Flash法的方法。另一個(gè)常用的方法稱為逐次逼近法。
    Flash法利用幾個(gè)比較器完成對(duì)參考電壓和來(lái)自采樣保持電路的模擬輸入的比較。當(dāng)模擬電壓超過(guò)給定比較器的參考電壓時(shí),比較器產(chǎn)生一個(gè)高電平輸出。圖21.36給出了一個(gè)簡(jiǎn)化的Flash ADC。

             

    在A/D轉(zhuǎn)換中,在一個(gè)給定點(diǎn)上對(duì)模擬波形進(jìn)行采樣,AD9280ARSZ然后將采樣值轉(zhuǎn)換為一個(gè)二進(jìn)制數(shù)。因?yàn)橥瓿赊D(zhuǎn)換要占用一定的時(shí)間區(qū)間,所以在一個(gè)給定時(shí)間間隔內(nèi)對(duì)模擬信號(hào)的采樣次數(shù)是受限制的。例如,如果某個(gè)ADC在l ms時(shí)間內(nèi)完成一次轉(zhuǎn)換,那么它在Is內(nèi)可以進(jìn)行1000次轉(zhuǎn)換。也就是說(shuō),在Is的時(shí)間間隔內(nèi),它可以將1000個(gè)不同的模擬數(shù)值轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式。
    為了再現(xiàn)一個(gè)模擬電壓波形,采樣速率必須大于模擬信號(hào)最高頻率分量的2倍。采樣速率的這個(gè)理論上的最小極限稱為奈奎斯特( Nyquist)速率或頻率。在奈奎斯特速率上,模擬信號(hào)在每個(gè)周期內(nèi)被采樣并轉(zhuǎn)換兩次。不過(guò)在實(shí)際中,在一個(gè)周期內(nèi)必須對(duì)信號(hào)采樣兩次以上。很明顯,在每個(gè)周期內(nèi)對(duì)模擬信號(hào)的采樣次數(shù)越多,對(duì)模擬信號(hào)的再現(xiàn)就越準(zhǔn)確。圖21. 35中對(duì)與兩個(gè)不同采樣速率的圖形對(duì)此進(jìn)行了說(shuō)明。從圖中可以見到,較高采樣速率產(chǎn)生一個(gè)更準(zhǔn)確的結(jié)果。
    圖21.35  兩個(gè)采樣速率的圖示

          
    一種模一數(shù)轉(zhuǎn)換的方法
    有幾種方法可用于模一數(shù)轉(zhuǎn)換,在此只簡(jiǎn)單地介紹一種叫做同步法或Flash法的方法。另一個(gè)常用的方法稱為逐次逼近法。
    Flash法利用幾個(gè)比較器完成對(duì)參考電壓和來(lái)自采樣保持電路的模擬輸入的比較。當(dāng)模擬電壓超過(guò)給定比較器的參考電壓時(shí),比較器產(chǎn)生一個(gè)高電平輸出。圖21.36給出了一個(gè)簡(jiǎn)化的Flash ADC。

             

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