使用指針式萬(wàn)用表測(cè)電阻時(shí)應(yīng)注意哪些事項(xiàng)
發(fā)布時(shí)間:2013/12/22 17:40:43 訪問(wèn)次數(shù):3964
使用指針式萬(wàn)用表測(cè)電阻時(shí)應(yīng)注意哪些事項(xiàng)?
答:測(cè)量電阻時(shí),不要用TMS320VC5410PGE160手同時(shí)去接觸電阻器的兩端引線,以免接人人體電阻對(duì)測(cè)量幾十干歐以上的電阻產(chǎn)生測(cè)量誤差,如圖1.34所示。
圖1.34測(cè)量電阻不正確操作方法
使用電阻擋測(cè)量時(shí)還要注意以下幾點(diǎn):
(1)測(cè)量電阻時(shí),被測(cè)電路不允許帶電。否則不僅是測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確,而且很有可能燒壞表頭。
(2)被測(cè)電阻不能有并聯(lián)支路,否則其測(cè)量結(jié)果是被測(cè)電阻并聯(lián)支路并聯(lián)后的等效電阻,而不是被測(cè)電阻的阻值。由于這一原因,在測(cè)量電阻時(shí),絕不能用手同時(shí)去接觸表筆的金屬部分,以免產(chǎn)生不必要的誤差。
(3)用萬(wàn)用表電阻擋測(cè)量同一個(gè)非線性元件時(shí),選擇量程不同,測(cè)量的電阻值也會(huì)不同,這屬于正,F(xiàn)象。這是由于電阻擋各量程的中值電阻和滿度電流各有不同造成的。
(4)用電阻擋測(cè)量晶體管參數(shù)時(shí),考慮到晶體管所能承受的電壓比較小和容許通過(guò)的電流較小,一般應(yīng)選擇尺×10或尺×lk的倍率擋。這是因?yàn)榈捅堵蕮醯膬?nèi)阻較小,電流較大;而高倍率擋的電池電壓較高。所以一般不適宜用低倍率擋或高倍率擋去測(cè)量晶體管的參數(shù)。
(5)萬(wàn)用表電阻擋不能直接測(cè)量微安表表頭、檢流計(jì)、標(biāo)準(zhǔn)電池等儀器儀表。在使用的間歇中,不能讓兩表筆短接,以免浪費(fèi)電池。
使用指針式萬(wàn)用表測(cè)電阻時(shí)應(yīng)注意哪些事項(xiàng)?
答:測(cè)量電阻時(shí),不要用TMS320VC5410PGE160手同時(shí)去接觸電阻器的兩端引線,以免接人人體電阻對(duì)測(cè)量幾十干歐以上的電阻產(chǎn)生測(cè)量誤差,如圖1.34所示。
圖1.34測(cè)量電阻不正確操作方法
使用電阻擋測(cè)量時(shí)還要注意以下幾點(diǎn):
(1)測(cè)量電阻時(shí),被測(cè)電路不允許帶電。否則不僅是測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確,而且很有可能燒壞表頭。
(2)被測(cè)電阻不能有并聯(lián)支路,否則其測(cè)量結(jié)果是被測(cè)電阻并聯(lián)支路并聯(lián)后的等效電阻,而不是被測(cè)電阻的阻值。由于這一原因,在測(cè)量電阻時(shí),絕不能用手同時(shí)去接觸表筆的金屬部分,以免產(chǎn)生不必要的誤差。
(3)用萬(wàn)用表電阻擋測(cè)量同一個(gè)非線性元件時(shí),選擇量程不同,測(cè)量的電阻值也會(huì)不同,這屬于正常現(xiàn)象。這是由于電阻擋各量程的中值電阻和滿度電流各有不同造成的。
(4)用電阻擋測(cè)量晶體管參數(shù)時(shí),考慮到晶體管所能承受的電壓比較小和容許通過(guò)的電流較小,一般應(yīng)選擇尺×10或尺×lk的倍率擋。這是因?yàn)榈捅堵蕮醯膬?nèi)阻較小,電流較大;而高倍率擋的電池電壓較高。所以一般不適宜用低倍率擋或高倍率擋去測(cè)量晶體管的參數(shù)。
(5)萬(wàn)用表電阻擋不能直接測(cè)量微安表表頭、檢流計(jì)、標(biāo)準(zhǔn)電池等儀器儀表。在使用的間歇中,不能讓兩表筆短接,以免浪費(fèi)電池。
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