一個縫隙或接縫的屏蔽效果是一個很難準確測量的參數(shù)，因為它涉及復雜的有許多變量的輻射發(fā)射測試。SFH495P一個更好的、更可靠的、更具重復性的測量屏蔽配件之間電接觸質量的方法是測量它的轉移阻抗。轉移阻抗的概念作為測量屏蔽電纜有效性的方法起源于75年前；見2. 11節(jié)(Schelkunoff，1934)。自從那以后這概

念延伸到包括屏蔽箱上接縫的影響( Faught，1982)。

   最基本的，轉移阻抗測試要測量已知的高頻電流流過接縫產生的電壓，電壓與電流的比值就是轉穆阻抗。使用帶有跟蹤源和如圖6-29所示合適的同軸測試裝置的頻譜分析儀，測試樣品的轉移阻抗利用一個寬頻頻譜儀可以很容易測量。

   屏蔽效果將會與測量的轉移阻抗的倒數(shù)成正比。屏蔽質量（近似于屏蔽效果）在SAEARP 1705被定義為人射波阻抗Zw除以轉移阻抗ZT，因此得出轉移阻抗和屏蔽效果的關系。

   圖6-30所示為對于不同金屬的各種組合在加速老化之前和之后測量的轉移阻抗數(shù)據(jù) (Archam-beault and Thibeau，1989)。這種老化是有意模擬暴露于一個典型的商業(yè)產品環(huán)境 5～8年的影響。樣品被放在含有l(wèi)Oppb氯氣、200ppb -氧化氮和lOppb硫化氫，溫度和濕度都受到控制的環(huán)境中老化14天。

   每一幅圖表都是鍍一層金屬，配用三種不同的導電襯墊。襯墊是鍍錫的、鍍鎳的和鍍錫鉛的鈹銅指形簧片。黑色條表示初始轉移阻抗，白色條表示老化后的阻抗。當使用鋁一鋅鍍鋼或者不銹鋼時，鍍錫襯墊老化之后沒有有效數(shù)據(jù)。