在帶時鐘的數(shù)字系統(tǒng)中，ULN2003A不同的時間窗口對靜電放電的敏感度是不相同的。這是由于在不同的時間周期內(nèi)系統(tǒng)在執(zhí)行不同的程序造成的。在這些程序當(dāng)中也許只有個別程序?qū)o電放電敏感。例如，一個計算機(jī)系統(tǒng)在某個時間窗口中可能從硬盤驅(qū)動器中讀取數(shù)據(jù)，在另一時間窗口中可能在向外圍設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)或者執(zhí)行一個運算程序。之后，計算機(jī)又可能在刷新顯示器或往存儲器中寫人數(shù)據(jù)。

   因此，當(dāng)進(jìn)行靜電放電試驗時，對產(chǎn)品的靜電放電試驗應(yīng)該進(jìn)行足夠長的時間，要覆蓋被測設(shè)備(EUT)的所有工作模式。這意味著必須對被測設(shè)備的每一個測試點做大量盼放電試驗．可能幾百次甚至上千次。而且，靜電放電千萬不能與被測設(shè)備以任何方式同步，它們應(yīng)該是隨機(jī)的。

   另外，靜電放電敏感度本身是一個統(tǒng)計過程。因此，為得到可重復(fù)的結(jié)果，測試標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該有一個合理的統(tǒng)計基礎(chǔ)。這也要求對被測設(shè)備進(jìn)行很多次放電實驗。而且，測試通過或失敗的標(biāo)準(zhǔn)也應(yīng)該是統(tǒng)計性的。即該產(chǎn)品經(jīng)過指定次數(shù)的放電測試，出現(xiàn)了不超過百分之幾的非破壞性錯誤。然而，現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)使用的都是不允許失敗的絕對標(biāo)準(zhǔn)。

   現(xiàn)行的商用靜電放電測試標(biāo)準(zhǔn)都不考慮上述影響。例如，EN-61000-4-2僅僅要求對被測設(shè)備每個測試點做10次放電，不允許失敗。這種做法的目的是簡化測試過程，提高測試速度。然而，從統(tǒng)計學(xué)的角度或者從覆蓋所有可能的時間窗口來講，放電次數(shù)都是不夠的。