分割測試法，對于一些有反饋REF3312AIDBZR回路的故障判斷是比較困難的，如振蕩器、帶各種類型反饋的放大器，因為它們各級的工作情況互相牽連，查找故障時需把反饋環(huán)踣斷開，接入一個合適信號，使電路成為開環(huán)系統(tǒng)，然后再逐級查找發(fā)生故障的部分。

     對半分割法，當(dāng)電路由若干串聯(lián)模塊組成時，可將其分割成兩個相等的部分（對半分割），通過測試的方法先判斷這兩部分中究竟哪一部分有故障，然后把有故障的部分再分成兩半來進(jìn)行檢查，直到找出故障位置。顯然，采用對半分割法可減少調(diào)試的工作量。

       替代法，用經(jīng)過調(diào)試且工作正常的單元電路，代替相同的但存在故障或有疑問的相應(yīng)電路，以便很快判斷故障的部位。有些元器件的故障往往不很明顯，如電容器的漏電，電阻的變質(zhì)、晶體管和集成電路的性能下降等，可用相同規(guī)格的優(yōu)質(zhì)元器件逐一替代，從而可很快地確定有故障的元器件。

      應(yīng)當(dāng)指出，為了迅速查找電路的故障，可根據(jù)具體情況靈活運(yùn)用上述一種或幾種方法，切不可盲目檢測，否則不但不能找出故障，反而可能引出新的故障。