多點(diǎn)同步精確定時(shí)數(shù)據(jù)采集
發(fā)布時(shí)間:2014/7/5 18:45:14 訪問(wèn)次數(shù):669
大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)在工程技術(shù)與科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域得到越來(lái)越多的應(yīng)用,這LM2670S-ADJ種測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的特點(diǎn)一是空間分布可以大到幾十km,二是測(cè)量點(diǎn)數(shù)可以多達(dá)上千個(gè)。這種測(cè)試網(wǎng)絡(luò)中有很多情況下要求對(duì)各測(cè)試點(diǎn)同步采樣,例如管道泄漏的監(jiān)測(cè)、電網(wǎng)浪涌的測(cè)試、地震波、風(fēng)速的測(cè)量等,需要成百上千個(gè)測(cè)量點(diǎn)在嚴(yán)格同一時(shí)間的采樣信號(hào)。因此,需要深入研究基于虛擬儀器的大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的同步采樣技術(shù)。
單元同步采樣
大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)可以按照空間分布劃分為若干測(cè)試子網(wǎng),測(cè)試子網(wǎng)又由測(cè)試單元組成。測(cè)試單元的特點(diǎn)是測(cè)試點(diǎn)在10個(gè)左右,分布范圍在幾十m之內(nèi)。
基于虛擬儀器的測(cè)試單元,硬件一般可以采用計(jì)算機(jī)和數(shù)據(jù)采集卡。在一個(gè)測(cè)試單元內(nèi)實(shí)現(xiàn)各測(cè)試點(diǎn)同步采樣的基本方法是使用同步數(shù)據(jù)采集卡。普通數(shù)據(jù)采集卡的多個(gè)通道循環(huán)使用同一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器,各通道采樣必然存在一個(gè)時(shí)間差。同步數(shù)據(jù)采集卡每個(gè)通道都使用獨(dú)立的A/D轉(zhuǎn)換器,n個(gè)通道全在一個(gè)相同的時(shí)刻采樣,可以保證嚴(yán)格的同步,如圖15-1 (a)所示。
但是如果對(duì)于采樣時(shí)間的同步要求不是特別嚴(yán)格,也可以使用“近似同步”采樣的方法,來(lái)降低測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)備投資。在圖15-1 (b)所示的栗樣方式中,一個(gè)采樣周期為AT,而采樣時(shí)各通道間的掃描時(shí)間間隔為At/n。第胛個(gè)通道與第1個(gè)通道采樣會(huì)有一個(gè)通道掃描周期At的時(shí)間差。對(duì)于一個(gè)頻率不是很高的信號(hào),采樣率也不會(huì)很高,即采樣周期AT遠(yuǎn)大于通道掃描周期At。這時(shí)可以認(rèn)為是一種近似的同步采樣。例如,一個(gè)普通的500kS/s采樣率的數(shù)據(jù)采集卡,通道間的掃描時(shí)間間隔為1/500 000s,即2ns。此時(shí)若采樣率為5kS/s,采樣周期為200ns。通道間最大的采樣時(shí)間差僅為采樣周期的1/100,而且可以通過(guò)軟件給以適當(dāng)?shù)男U?/span>
大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)在工程技術(shù)與科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域得到越來(lái)越多的應(yīng)用,這LM2670S-ADJ種測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的特點(diǎn)一是空間分布可以大到幾十km,二是測(cè)量點(diǎn)數(shù)可以多達(dá)上千個(gè)。這種測(cè)試網(wǎng)絡(luò)中有很多情況下要求對(duì)各測(cè)試點(diǎn)同步采樣,例如管道泄漏的監(jiān)測(cè)、電網(wǎng)浪涌的測(cè)試、地震波、風(fēng)速的測(cè)量等,需要成百上千個(gè)測(cè)量點(diǎn)在嚴(yán)格同一時(shí)間的采樣信號(hào)。因此,需要深入研究基于虛擬儀器的大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的同步采樣技術(shù)。
單元同步采樣
大型測(cè)試網(wǎng)絡(luò)可以按照空間分布劃分為若干測(cè)試子網(wǎng),測(cè)試子網(wǎng)又由測(cè)試單元組成。測(cè)試單元的特點(diǎn)是測(cè)試點(diǎn)在10個(gè)左右,分布范圍在幾十m之內(nèi)。
基于虛擬儀器的測(cè)試單元,硬件一般可以采用計(jì)算機(jī)和數(shù)據(jù)采集卡。在一個(gè)測(cè)試單元內(nèi)實(shí)現(xiàn)各測(cè)試點(diǎn)同步采樣的基本方法是使用同步數(shù)據(jù)采集卡。普通數(shù)據(jù)采集卡的多個(gè)通道循環(huán)使用同一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器,各通道采樣必然存在一個(gè)時(shí)間差。同步數(shù)據(jù)采集卡每個(gè)通道都使用獨(dú)立的A/D轉(zhuǎn)換器,n個(gè)通道全在一個(gè)相同的時(shí)刻采樣,可以保證嚴(yán)格的同步,如圖15-1 (a)所示。
但是如果對(duì)于采樣時(shí)間的同步要求不是特別嚴(yán)格,也可以使用“近似同步”采樣的方法,來(lái)降低測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)備投資。在圖15-1 (b)所示的栗樣方式中,一個(gè)采樣周期為AT,而采樣時(shí)各通道間的掃描時(shí)間間隔為At/n。第胛個(gè)通道與第1個(gè)通道采樣會(huì)有一個(gè)通道掃描周期At的時(shí)間差。對(duì)于一個(gè)頻率不是很高的信號(hào),采樣率也不會(huì)很高,即采樣周期AT遠(yuǎn)大于通道掃描周期At。這時(shí)可以認(rèn)為是一種近似的同步采樣。例如,一個(gè)普通的500kS/s采樣率的數(shù)據(jù)采集卡,通道間的掃描時(shí)間間隔為1/500 000s,即2ns。此時(shí)若采樣率為5kS/s,采樣周期為200ns。通道間最大的采樣時(shí)間差僅為采樣周期的1/100,而且可以通過(guò)軟件給以適當(dāng)?shù)男U?/span>
熱門點(diǎn)擊
- 變量主要由兩個(gè)部分構(gòu)成
- LabVIEW實(shí)現(xiàn)多線程的方法
- 漢字交換碼
- 時(shí)基選擇( TIME/DIV)和微調(diào)
- 溢流閥動(dòng)態(tài)特性測(cè)試
- 變址尋址
- 用指針式萬(wàn)用表檢測(cè)電感器的方法
- 補(bǔ)碼
- CH1通道信號(hào)輸入插座(INPUT)
- LabVIEW函數(shù)生成的報(bào)表
推薦技術(shù)資料
- 單片機(jī)版光立方的制作
- N視頻: http://v.youku.comN_sh... [詳細(xì)]
- Vision Booster視
- 輕薄多模態(tài)AI交互和專業(yè)影像系統(tǒng)
- MIPS 架構(gòu)
- 芯片探針測(cè)試(Wafer Ac
- TEE 架構(gòu)RV-ACRN H
- NV-RVV(NV-RISCV32增加向量運(yùn)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究