超聲波穿透法探傷，是根據(jù)超聲波穿透工件后的能量變化狀況，來判別工件內(nèi)部質(zhì)量的

方法。A4GA024Z穿透法用兩個探頭，置于工件相對面，一個發(fā)射超聲波，一個接收超聲波。發(fā)射的超聲波可以是連續(xù)波，也可以是脈沖。其工作原理如圖4-7所示。在探測中，當工件內(nèi)無缺陷時，接收能量大，儀表指示值大；當工件內(nèi)有缺陷時，接收能量小，儀表指示值小。根據(jù)這個變化，就可以把工件內(nèi)部缺陷檢測出來。

  超聲波反射法探測

   反射法探傷是以超聲波在工件反射情況的不同來探測缺陷的方法。如圖4-8所示是以一次底波為依據(jù)進行探傷的方法。高頻脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈搏（發(fā)射波）加在探頭上，激勵壓電晶體振蕩，使之產(chǎn)生超聲波。超聲波以一定的速度向工件內(nèi)部傳播。一部分超聲波遇到缺陷反射回來(缺陷波F)；另一部分超聲波繼續(xù)傳至工件底面(底波B)，也反射回來。在缺陷及底面反射回來的超聲波被探頭接收時，又變?yōu)殡娒}沖。發(fā)射波T、缺陷波F及底波B

經(jīng)放大后，在顯示器的熒光屏上顯出來。熒光屏上的水平亮線為掃描線（時間基準），其長度與時間成正比。由發(fā)射波、缺陷波及底波在掃描線的位置，可求出缺陷的位置。由缺陷波的幅度，可判晰缺陷大�。挥扇毕莶ǖ男螤�，可分析缺陷的性質(zhì)。當缺陷面積大于聲波的截面積時，聲波全部由缺陷處反射回來，熒光屏上只有T、F波，沒有B波。當工件無缺陷時，熒光屏上只有T、B波，沒有F波。