超聲波穿透法探測(cè)
發(fā)布時(shí)間:2014/11/29 9:11:43 訪問(wèn)次數(shù):2254
超聲波穿透法探傷,是根據(jù)超聲波穿透工件后的能量變化狀況,來(lái)判別工件內(nèi)部質(zhì)量的
方法。A4GA024Z穿透法用兩個(gè)探頭,置于工件相對(duì)面,一個(gè)發(fā)射超聲波,一個(gè)接收超聲波。發(fā)射的超聲波可以是連續(xù)波,也可以是脈沖。其工作原理如圖4-7所示。在探測(cè)中,當(dāng)工件內(nèi)無(wú)缺陷時(shí),接收能量大,儀表指示值大;當(dāng)工件內(nèi)有缺陷時(shí),接收能量小,儀表指示值小。根據(jù)這個(gè)變化,就可以把工件內(nèi)部缺陷檢測(cè)出來(lái)。
超聲波反射法探測(cè)
反射法探傷是以超聲波在工件反射情況的不同來(lái)探測(cè)缺陷的方法。如圖4-8所示是以一次底波為依據(jù)進(jìn)行探傷的方法。高頻脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈搏(發(fā)射波)加在探頭上,激勵(lì)壓電晶體振蕩,使之產(chǎn)生超聲波。超聲波以一定的速度向工件內(nèi)部傳播。一部分超聲波遇到缺陷反射回來(lái)(缺陷波F);另一部分超聲波繼續(xù)傳至工件底面(底波B),也反射回來(lái)。在缺陷及底面反射回來(lái)的超聲波被探頭接收時(shí),又變?yōu)殡娒}沖。發(fā)射波T、缺陷波F及底波B
經(jīng)放大后,在顯示器的熒光屏上顯出來(lái)。熒光屏上的水平亮線為掃描線(時(shí)間基準(zhǔn)),其長(zhǎng)度與時(shí)間成正比。由發(fā)射波、缺陷波及底波在掃描線的位置,可求出缺陷的位置。由缺陷波的幅度,可判晰缺陷大。挥扇毕莶ǖ男螤睿煞治鋈毕莸男再|(zhì)。當(dāng)缺陷面積大于聲波的截面積時(shí),聲波全部由缺陷處反射回來(lái),熒光屏上只有T、F波,沒有B波。當(dāng)工件無(wú)缺陷時(shí),熒光屏上只有T、B波,沒有F波。
超聲波穿透法探傷,是根據(jù)超聲波穿透工件后的能量變化狀況,來(lái)判別工件內(nèi)部質(zhì)量的
方法。A4GA024Z穿透法用兩個(gè)探頭,置于工件相對(duì)面,一個(gè)發(fā)射超聲波,一個(gè)接收超聲波。發(fā)射的超聲波可以是連續(xù)波,也可以是脈沖。其工作原理如圖4-7所示。在探測(cè)中,當(dāng)工件內(nèi)無(wú)缺陷時(shí),接收能量大,儀表指示值大;當(dāng)工件內(nèi)有缺陷時(shí),接收能量小,儀表指示值小。根據(jù)這個(gè)變化,就可以把工件內(nèi)部缺陷檢測(cè)出來(lái)。
超聲波反射法探測(cè)
反射法探傷是以超聲波在工件反射情況的不同來(lái)探測(cè)缺陷的方法。如圖4-8所示是以一次底波為依據(jù)進(jìn)行探傷的方法。高頻脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈搏(發(fā)射波)加在探頭上,激勵(lì)壓電晶體振蕩,使之產(chǎn)生超聲波。超聲波以一定的速度向工件內(nèi)部傳播。一部分超聲波遇到缺陷反射回來(lái)(缺陷波F);另一部分超聲波繼續(xù)傳至工件底面(底波B),也反射回來(lái)。在缺陷及底面反射回來(lái)的超聲波被探頭接收時(shí),又變?yōu)殡娒}沖。發(fā)射波T、缺陷波F及底波B
經(jīng)放大后,在顯示器的熒光屏上顯出來(lái)。熒光屏上的水平亮線為掃描線(時(shí)間基準(zhǔn)),其長(zhǎng)度與時(shí)間成正比。由發(fā)射波、缺陷波及底波在掃描線的位置,可求出缺陷的位置。由缺陷波的幅度,可判晰缺陷大;由缺陷波的形狀,可分析缺陷的性質(zhì)。當(dāng)缺陷面積大于聲波的截面積時(shí),聲波全部由缺陷處反射回來(lái),熒光屏上只有T、F波,沒有B波。當(dāng)工件無(wú)缺陷時(shí),熒光屏上只有T、B波,沒有F波。
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