光相位調(diào)制檢測技術(shù)是被測參量的變化引起光波相位變化，通過檢測光波相位變化而測量被測參量的技術(shù)。ADS1201U用光相位調(diào)制原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)一些參量的檢測往往具有更高的檢測靈敏度和精度，被廣泛應(yīng)用于許多精密測試系統(tǒng)中。下面介紹基于光相位調(diào)制的檢測系統(tǒng)的原理、設(shè)計(jì)與應(yīng)用。

   光相位的調(diào)制是各種被測參量（如位移、溫度、應(yīng)力應(yīng)變、壓力、介質(zhì)密度，甚至電場、磁場等）通過直接或間接對(duì)光傳播途徑上光程的影響，從而引起光相位的變化。光相位的解調(diào)是利用光的干涉效應(yīng)（各種干涉儀）把光波間的相對(duì)相位關(guān)系轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度的空間或時(shí)間的變化，再通過光電檢測器件檢測光強(qiáng)變化，實(shí)現(xiàn)對(duì)光相位變化的檢測。

   獲得高質(zhì)量的干涉信號(hào)是保證檢測精度與檢測系統(tǒng)可靠工作的必要條件。干涉信號(hào)的調(diào)制度是反映干涉信號(hào)質(zhì)量的重要指標(biāo)，干涉信號(hào)的調(diào)制度為干涉信號(hào)的最大光強(qiáng)；/mi。為干涉信號(hào)的最小光強(qiáng)。

   調(diào)制度肘的值在0~1之間變化，當(dāng)M=l時(shí)，獲得的干涉條紋信號(hào)質(zhì)量最好；當(dāng)M=O時(shí)，干涉條紋信號(hào)的可見度為零，此時(shí)無法得到干涉倍號(hào)。

   影響干涉信號(hào)調(diào)制度的重要因素有：①光源的相干性：②干涉光束相干性要求；③光電轉(zhuǎn)換和信號(hào)檢測部分。