OTDR技術(shù)中使用了后向散射光的強(qiáng)度信息，而POTDR法是利用后向散射光的偏振態(tài)信息進(jìn)行分布式測(cè)量的技術(shù)。

   光纖在外部擾動(dòng)的影響下，DK-621-0434-1S光纖中光的偏振狀態(tài)發(fā)生變化，檢測(cè)偏振狀態(tài)的變化，就能得到外部擾動(dòng)的大小和位置。圖11 - 35所示是POTDR法的基本原理圖。在該方法中，只要測(cè)量出進(jìn)入解偏器前后光功率的大小，就可通過(guò)有關(guān)公式得到被測(cè)參量的信息。

   POTDR法的空間分辨力同樣受到光檢測(cè)器響應(yīng)時(shí)間的限制，而且被測(cè)量的測(cè)量精度最終受功率測(cè)量精度的影響。此外，進(jìn)入解偏器前后光功率的大小隨光源輸出功率的變化而變化，所以光源的穩(wěn)定性是一個(gè)重要問(wèn)題。

   波長(zhǎng)掃描法是用白光照射保偏光纖，運(yùn)用快速傅里葉算法來(lái)確定模式耦合系數(shù)的分布，圖11 - 36為其原理圖。當(dāng)高雙折射保偏光纖受到外部擾動(dòng)作用時(shí)，就會(huì)引起相位匹配的模式，即光的上部分從一種模式轉(zhuǎn)換為另一種模式。由于本征模以不同的速度在光纖中傳播，從耦合點(diǎn)到光纖輸出端之間的相位變化與光程成正比，所以，從兩個(gè)本征模的相對(duì)幅度的大小就可以得到被測(cè)參數(shù)的信息。WLS法測(cè)量的范圍與光纖模式雙折射差的倒數(shù)成正比所以，使用低雙折射光纖可以得到大的測(cè)量范圍，其空間分辨力正比于入射光的相干長(zhǎng)度，從而使傳感器的測(cè)量范圍正比于單色儀出射光的相干度，該系統(tǒng)分辨力高，可達(dá)到0. 3cm，光源成本較低；但整個(gè)系統(tǒng)測(cè)量范圍小，系統(tǒng)成本昂貴，不利于實(shí)用化。