基于偏振分束的磁光成像測量實驗
發(fā)布時間:2015/5/17 17:18:13 訪問次數(shù):498
為了檢驗該方法的在磁光成像中的實用性,進(jìn)行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像測量應(yīng)用實驗研究。
磁光成像本質(zhì)上是通過成像測量磁場引起的旋光角度變化量,本文將偏振分束成像應(yīng)用到測量法拉第磁致旋光中,設(shè)計和構(gòu)建的測量實驗系統(tǒng)如圖12 - 32所示。
實驗系統(tǒng)中的法拉第磁光調(diào)制器是由電源、通電螺線管和磁光玻璃(置入在螺線管中)組成。
實驗過程中,分別在螺線管兩端電壓為OV、5V、10V、15V、20V下,拍攝的兩CCD成像圖片,如圖12 - 33所示。
圖12 -33中,(a)、(f)對應(yīng)的是在電壓為OV時兩CCD上所成的一組像;(b)、(g)對應(yīng)的是在電壓為SV時兩CCD上所成的一組像;(c)、(h)對應(yīng)的是在電壓為10V時兩CCD上所成的一組像;(d)、(i)對應(yīng)的是在電壓為15V時兩CCD上所成的一組像;(e)、(j)對應(yīng)的是在電壓為20V時兩CCD上所成的一組像。
對以上圖像進(jìn)行上一節(jié)對應(yīng)的數(shù)據(jù)處理,得到不同電壓下的旋光角度。取5V咆壓時任意5個像素對應(yīng)的兩CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。
為了檢驗該方法的在磁光成像中的實用性,進(jìn)行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像測量應(yīng)用實驗研究。
磁光成像本質(zhì)上是通過成像測量磁場引起的旋光角度變化量,本文將偏振分束成像應(yīng)用到測量法拉第磁致旋光中,設(shè)計和構(gòu)建的測量實驗系統(tǒng)如圖12 - 32所示。
實驗系統(tǒng)中的法拉第磁光調(diào)制器是由電源、通電螺線管和磁光玻璃(置入在螺線管中)組成。
實驗過程中,分別在螺線管兩端電壓為OV、5V、10V、15V、20V下,拍攝的兩CCD成像圖片,如圖12 - 33所示。
圖12 -33中,(a)、(f)對應(yīng)的是在電壓為OV時兩CCD上所成的一組像;(b)、(g)對應(yīng)的是在電壓為SV時兩CCD上所成的一組像;(c)、(h)對應(yīng)的是在電壓為10V時兩CCD上所成的一組像;(d)、(i)對應(yīng)的是在電壓為15V時兩CCD上所成的一組像;(e)、(j)對應(yīng)的是在電壓為20V時兩CCD上所成的一組像。
對以上圖像進(jìn)行上一節(jié)對應(yīng)的數(shù)據(jù)處理,得到不同電壓下的旋光角度。取5V咆壓時任意5個像素對應(yīng)的兩CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。
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