基于偏振分束的磁光成像測(cè)量實(shí)驗(yàn)
發(fā)布時(shí)間:2015/5/17 17:18:13 訪問(wèn)次數(shù):389
為了檢驗(yàn)該方法的在磁光成像中的實(shí)用性,進(jìn)行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像測(cè)量應(yīng)用實(shí)驗(yàn)研究。
磁光成像本質(zhì)上是通過(guò)成像測(cè)量磁場(chǎng)引起的旋光角度變化量,本文將偏振分束成像應(yīng)用到測(cè)量法拉第磁致旋光中,設(shè)計(jì)和構(gòu)建的測(cè)量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)如圖12 - 32所示。
實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)中的法拉第磁光調(diào)制器是由電源、通電螺線管和磁光玻璃(置入在螺線管中)組成。
實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,分別在螺線管兩端電壓為OV、5V、10V、15V、20V下,拍攝的兩CCD成像圖片,如圖12 - 33所示。
圖12 -33中,(a)、(f)對(duì)應(yīng)的是在電壓為OV時(shí)兩CCD上所成的一組像;(b)、(g)對(duì)應(yīng)的是在電壓為SV時(shí)兩CCD上所成的一組像;(c)、(h)對(duì)應(yīng)的是在電壓為10V時(shí)兩CCD上所成的一組像;(d)、(i)對(duì)應(yīng)的是在電壓為15V時(shí)兩CCD上所成的一組像;(e)、(j)對(duì)應(yīng)的是在電壓為20V時(shí)兩CCD上所成的一組像。
對(duì)以上圖像進(jìn)行上一節(jié)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)處理,得到不同電壓下的旋光角度。取5V咆壓時(shí)任意5個(gè)像素對(duì)應(yīng)的兩CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。
為了檢驗(yàn)該方法的在磁光成像中的實(shí)用性,進(jìn)行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像測(cè)量應(yīng)用實(shí)驗(yàn)研究。
磁光成像本質(zhì)上是通過(guò)成像測(cè)量磁場(chǎng)引起的旋光角度變化量,本文將偏振分束成像應(yīng)用到測(cè)量法拉第磁致旋光中,設(shè)計(jì)和構(gòu)建的測(cè)量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)如圖12 - 32所示。
實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)中的法拉第磁光調(diào)制器是由電源、通電螺線管和磁光玻璃(置入在螺線管中)組成。
實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,分別在螺線管兩端電壓為OV、5V、10V、15V、20V下,拍攝的兩CCD成像圖片,如圖12 - 33所示。
圖12 -33中,(a)、(f)對(duì)應(yīng)的是在電壓為OV時(shí)兩CCD上所成的一組像;(b)、(g)對(duì)應(yīng)的是在電壓為SV時(shí)兩CCD上所成的一組像;(c)、(h)對(duì)應(yīng)的是在電壓為10V時(shí)兩CCD上所成的一組像;(d)、(i)對(duì)應(yīng)的是在電壓為15V時(shí)兩CCD上所成的一組像;(e)、(j)對(duì)應(yīng)的是在電壓為20V時(shí)兩CCD上所成的一組像。
對(duì)以上圖像進(jìn)行上一節(jié)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)處理,得到不同電壓下的旋光角度。取5V咆壓時(shí)任意5個(gè)像素對(duì)應(yīng)的兩CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。
熱門點(diǎn)擊
- 描述光電倍增管的時(shí)間特性有三個(gè)參數(shù)
- 控制器接線時(shí)注意“正”“負(fù)”極性,要求紅線接
- 相位檢測(cè)原理
- 眩光控制等級(jí)
- 串聯(lián)型充放電控制器的基本工作原理
- LabVIEW中的數(shù)據(jù)類型包括基本類型
- 典型的相敏檢波電路
- 靈敏度與光電特性
- 光電池適用電路
- 電荷轉(zhuǎn)移
推薦技術(shù)資料
- 聲道前級(jí)設(shè)計(jì)特點(diǎn)
- 與通常的Hi-Fi前級(jí)不同,EP9307-CRZ這臺(tái)分... [詳細(xì)]