光電離檢測(cè)原理及方法
發(fā)布時(shí)間:2015/6/9 22:03:22 訪問(wèn)次數(shù):1187
光電離檢測(cè)方法主要用于檢測(cè)有機(jī)揮發(fā)性物質(zhì)， AD7192BRUZ光電離檢測(cè)器是通過(guò)具有特定電離能的真空紫外燈產(chǎn)生紫外光，當(dāng)氣體分子進(jìn)入電離室后，有機(jī)物分子被電離成帶正電的離子和帶負(fù)電的電子‘17'18 3[見(jiàn)式(1.1)]，在極化極板的電場(chǎng)作用下，離子和電子向極板撞擊，從而形成可被檢測(cè)到的微弱的電流。具體原理描述
和氣室設(shè)計(jì)如圖l石和圖1.7所示。
光電離檢測(cè)方法主要用于檢測(cè)有機(jī)揮發(fā)性物質(zhì)， AD7192BRUZ光電離檢測(cè)器是通過(guò)具有特定電離能的真空紫外燈產(chǎn)生紫外光，當(dāng)氣體分子進(jìn)入電離室后，有機(jī)物分子被電離成帶正電的離子和帶負(fù)電的電子‘17'18 3[見(jiàn)式(1.1)]，在極化極板的電場(chǎng)作用下，離子和電子向極板撞擊，從而形成可被檢測(cè)到的微弱的電流。具體原理描述
和氣室設(shè)計(jì)如圖l石和圖1.7所示。
上一篇：光聲氣體檢測(cè)原理及方法
相關(guān)技術(shù)資料- 6-9光電離檢測(cè)原理及方法
熱門(mén)點(diǎn)擊
- 激光準(zhǔn)直儀的原理和基本結(jié)構(gòu)
- 光柵刻線數(shù)
- 從上面的討論可以看出，光外差檢測(cè)具有以下幾個(gè)
- 雙折射現(xiàn)象
- 系統(tǒng)軟件總體流程圖
- 中等分辨率成像光譖儀( MERIS)
- 干涉信號(hào)的移相技術(shù)
- 光的時(shí)間相干性決定于光源的單色性
- 不直度的測(cè)量
- 比色測(cè)溫
推薦技術(shù)資料
- 泰克新發(fā)布的DSA830
- 泰克新發(fā)布的DSA8300在一臺(tái)儀器中同時(shí)實(shí)現(xiàn)時(shí)域和頻域分析，DS... [詳細(xì)]
- 100V高頻半橋N-溝道功率MOSFET驅(qū)動(dòng)
- 集成高端和低端 FET 和驅(qū)動(dòng)
- 柵極驅(qū)動(dòng)單片半橋芯片MP869
- 數(shù)字恒定導(dǎo)通時(shí)間控制模式（COT）應(yīng)用探究
- 高效率 (CSP/QFN/BG
- IC 工藝、封裝技術(shù)、單片設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
