加強元器件控制
發(fā)布時間:2015/6/17 18:49:33 訪問次數(shù):426
20世紀(jì)70年代可靠性步入成熟階段,盡管美國JS28F320C3BD-90出現(xiàn)嚴(yán)重的經(jīng)濟蕭條,可靠性工程作為減少壽命期費用的重要工具,仍然得到深入的發(fā)展,并日趨成熟。隨著軍用電子設(shè)備復(fù)雜性的迅速增長,電子設(shè)備的可靠性仍是美國防部所關(guān)切的問題。為此,由美國政府部門、工業(yè)及學(xué)術(shù)界代表建立了“電子設(shè)備可靠性討論會”,根據(jù)其對加強電子設(shè)備可靠性統(tǒng)一管理的建議,正式成立了“電子系統(tǒng)可靠性聯(lián)合技術(shù)協(xié)調(diào)組”來執(zhí)行會議提出的各項建議。該協(xié)調(diào)組的職能擴大到非電子設(shè)備,并改名為“可靠性、可用性及維修性聯(lián)合技術(shù)協(xié)調(diào)組”,作為集中統(tǒng)一的可靠性管理機構(gòu),負(fù)責(zé)組織、協(xié)調(diào)美國國防部范圍的可靠性政策、標(biāo)準(zhǔn)、手冊和重大研究課題,建立了全國性的數(shù)據(jù)交換網(wǎng),加強了美國政府機構(gòu)同工業(yè)部門之間的信息交流,制定了一整套較完善的方法和程序。這個階段強調(diào)可靠性I程的整體保證,加強元器件控制,強調(diào)設(shè)計階段的元器件降額使用和熱設(shè)計,強調(diào)環(huán)境應(yīng)力篩選以及綜合的可靠性試驗。在可靠性設(shè)計上,采用更嚴(yán)格、更符合實際及更有效的設(shè)計方法。如發(fā)展了“失效物理”(可靠性物理學(xué))、FME( C)A(Failure Mode Effects and CriticalityAnalysis,故障模式、影響和危險度分析)、更嚴(yán)格的降額設(shè)計、綜合熱分析及設(shè)計技術(shù)等為設(shè)計服務(wù)。由于MIL-STD-781A、B均按設(shè)備分級,與設(shè)備的實際使用不符,試驗使用的環(huán)境條件也不是模擬設(shè)備使用時所處的綜合環(huán)境條件。所以許多電子設(shè)備按MIL-STD-7 81B試驗獲得的MTBF與現(xiàn)場使用獲得的MTBF相差懸殊(有的廠家把試驗獲得的
MTBF除以10或20)。為此,在1977年對MIL-STD-781B進(jìn)行了較大的修改,頒發(fā)了MIL-STD-781C,其名稱為“可靠性設(shè)計鑒定試驗及產(chǎn)品驗收試驗(指數(shù)分布)”。781C將設(shè)備按使用現(xiàn)場分成六大類。要求環(huán)境試驗條件應(yīng)根據(jù)設(shè)備使用的環(huán)境情況和工作務(wù)來確定,提出把按時間順序變化的綜合環(huán)境試驗剖面施加在試件上,即采用后來出現(xiàn)的綜合環(huán)境可靠性試驗方法(CERT)。這解決了由于試驗室中使用的環(huán)境試驗條件對使用環(huán)境模擬不真實造成兩者的MTBF值相差懸殊的問題,但其準(zhǔn)確程度取決于綜合環(huán)境試驗條件的仿真程度。
20世紀(jì)70年代可靠性步入成熟階段,盡管美國JS28F320C3BD-90出現(xiàn)嚴(yán)重的經(jīng)濟蕭條,可靠性工程作為減少壽命期費用的重要工具,仍然得到深入的發(fā)展,并日趨成熟。隨著軍用電子設(shè)備復(fù)雜性的迅速增長,電子設(shè)備的可靠性仍是美國防部所關(guān)切的問題。為此,由美國政府部門、工業(yè)及學(xué)術(shù)界代表建立了“電子設(shè)備可靠性討論會”,根據(jù)其對加強電子設(shè)備可靠性統(tǒng)一管理的建議,正式成立了“電子系統(tǒng)可靠性聯(lián)合技術(shù)協(xié)調(diào)組”來執(zhí)行會議提出的各項建議。該協(xié)調(diào)組的職能擴大到非電子設(shè)備,并改名為“可靠性、可用性及維修性聯(lián)合技術(shù)協(xié)調(diào)組”,作為集中統(tǒng)一的可靠性管理機構(gòu),負(fù)責(zé)組織、協(xié)調(diào)美國國防部范圍的可靠性政策、標(biāo)準(zhǔn)、手冊和重大研究課題,建立了全國性的數(shù)據(jù)交換網(wǎng),加強了美國政府機構(gòu)同工業(yè)部門之間的信息交流,制定了一整套較完善的方法和程序。這個階段強調(diào)可靠性I程的整體保證,加強元器件控制,強調(diào)設(shè)計階段的元器件降額使用和熱設(shè)計,強調(diào)環(huán)境應(yīng)力篩選以及綜合的可靠性試驗。在可靠性設(shè)計上,采用更嚴(yán)格、更符合實際及更有效的設(shè)計方法。如發(fā)展了“失效物理”(可靠性物理學(xué))、FME( C)A(Failure Mode Effects and CriticalityAnalysis,故障模式、影響和危險度分析)、更嚴(yán)格的降額設(shè)計、綜合熱分析及設(shè)計技術(shù)等為設(shè)計服務(wù)。由于MIL-STD-781A、B均按設(shè)備分級,與設(shè)備的實際使用不符,試驗使用的環(huán)境條件也不是模擬設(shè)備使用時所處的綜合環(huán)境條件。所以許多電子設(shè)備按MIL-STD-7 81B試驗獲得的MTBF與現(xiàn)場使用獲得的MTBF相差懸殊(有的廠家把試驗獲得的
MTBF除以10或20)。為此,在1977年對MIL-STD-781B進(jìn)行了較大的修改,頒發(fā)了MIL-STD-781C,其名稱為“可靠性設(shè)計鑒定試驗及產(chǎn)品驗收試驗(指數(shù)分布)”。781C將設(shè)備按使用現(xiàn)場分成六大類。要求環(huán)境試驗條件應(yīng)根據(jù)設(shè)備使用的環(huán)境情況和工作務(wù)來確定,提出把按時間順序變化的綜合環(huán)境試驗剖面施加在試件上,即采用后來出現(xiàn)的綜合環(huán)境可靠性試驗方法(CERT)。這解決了由于試驗室中使用的環(huán)境試驗條件對使用環(huán)境模擬不真實造成兩者的MTBF值相差懸殊的問題,但其準(zhǔn)確程度取決于綜合環(huán)境試驗條件的仿真程度。
熱門點擊
- 柯勒照明
- 紅外吸收峰的強度
- 隔圈設(shè)計
- 反射棱鏡的計算
- 分辨率是儀器設(shè)備的一個重要技術(shù)指標(biāo)
- 抽樣檢驗按抽樣方式又分為一次抽樣
- 莫爾條紋與光柵柵距誤羞的關(guān)系
- 作用線與瞬時臂法
- 單元紅外探測器的結(jié)構(gòu)及原理圖
- 顯微系統(tǒng)基本參數(shù)的決定
推薦技術(shù)資料
- 聲道前級設(shè)計特點
- 與通常的Hi-Fi前級不同,EP9307-CRZ這臺分... [詳細(xì)]
- AMOLED顯示驅(qū)動芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計
- GB300 超級芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究