20世紀(jì)60年代是可靠性全面發(fā)展的階段，空間科學(xué)和宇航技術(shù)的發(fā)展提高了可靠性的研究水平，JS28F256M29EWLA擴(kuò)展了其研究范圍。對(duì)可靠性的研究，巳經(jīng)由電子、航空、宇航i’核能等尖端工業(yè)領(lǐng)域擴(kuò)展到電機(jī)與電力系統(tǒng)、機(jī)械、動(dòng)力、土木等領(lǐng)域。美國國防部及國家航空航天局( NASA)采納AGREE的可靠性研究報(bào)告中的建議，在新研制的裝備中開始推廣可靠性設(shè)計(jì)、試驗(yàn)和管理標(biāo)準(zhǔn)。為了改善可靠性工程的管理，美國國防部于1965年頒發(fā)了MIL-STD-785，即“系統(tǒng)與設(shè)備的可靠性大綱要求”，1969年修改為MIL-STD-785A。美空軍系統(tǒng)司令部決定在羅姆航空發(fā)展中心(Rome Air Development Center，RADC)組建可靠性分析中心。從事可靠性預(yù)計(jì)、可靠性分析與分配、可靠性試驗(yàn)、數(shù)據(jù)采集等研究。雖然可靠性有定量的指標(biāo)要求，若無相應(yīng)的驗(yàn)證方法，那也會(huì)流于形式。二十世紀(jì)四五十年代在概率論和數(shù)理統(tǒng)計(jì)發(fā)展起來的基礎(chǔ)上，開始了指標(biāo)的試驗(yàn)驗(yàn)證。在此期間，美國國防部頒布了MIL-STD-781“可修復(fù)的電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)等級(jí)和接收／拒收準(zhǔn)則”，后修改為MIL-STD-781A“可靠性試驗(yàn)——指數(shù)分布”，后又修改為MII,-STD-781B“可靠性試驗(yàn)——指數(shù)分布”。隨后產(chǎn)生了MIL-STD-690“失效率抽樣方案和程序”，DOD-H-108“壽命和可靠性試驗(yàn)抽樣程序和表格”等文件，這些標(biāo)準(zhǔn)為可靠性指標(biāo)試驗(yàn)驗(yàn)證提供了具體方法，被世界各國采用。從工業(yè)部門的產(chǎn)品分類著眼，把設(shè)備和系統(tǒng)的可靠性視為元器件來處理。如MIL-STD-781將電子設(shè)備分為七類，分別對(duì)應(yīng)環(huán)境條件A、B、C、D、E、F、G七個(gè)等級(jí)。G級(jí)最高，G級(jí)的溫度為+95℃。MIL-STD-781A將電子設(shè)備分為十類，分別對(duì)應(yīng)環(huán)境條件A、A-l、B、C、D、E、F、G、H、J十個(gè)等級(jí)。最高等級(jí)為J級(jí)，溫度為+125℃。MIL-STD-781B關(guān)于電子設(shè)備酌分類與A相同，其差別在于，前者增加了用于 全部產(chǎn)品的篩選（試驗(yàn)），其目的是去除有早期缺陷的產(chǎn)品，試驗(yàn)時(shí)間50h或1／4MTBF（Mean Time Between Failure，平均無故障時(shí)間），取其中的較小者。在試驗(yàn)方案上，采用了放寬和加嚴(yán)試驗(yàn)的轉(zhuǎn)換規(guī)則。這些標(biāo)準(zhǔn)使用的環(huán)境條件是振動(dòng)、溫度和電壓三個(gè)單項(xiàng)應(yīng)力。