為評價、分析電子元器件的可靠性，在使用現(xiàn)場進行的可靠性試驗稱為現(xiàn)場使用試驗。DL-1195-211K現(xiàn)場可靠性試驗可以真實地反映出產(chǎn)品在實際使用條件下的可靠性水平，因而是最符合實際情況的試驗。上面幾種試驗是在試驗室中進行的模擬試驗，其正確與否，有待于實際使用或現(xiàn)場可靠性試驗來驗證。有時在試驗室模擬試驗沒有發(fā)現(xiàn)的問題，而在實際使用或現(xiàn)場可靠性試驗中會暴露出來。這是因為試驗室模擬試驗只是選用一種或兩種應(yīng)力進行的，而實際使用中，往往是多種應(yīng)力同時綜合作用于樣品上，它對元器件所帶來的影響是復(fù)雜的、綜合全面的，這不是試驗室模擬試驗所能完全達到的。因此，現(xiàn)場可靠性試驗或現(xiàn)場使用試驗是可

靠性工程的重要內(nèi)容，可以作為設(shè)訐、制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)來加以規(guī)定。現(xiàn)場使用試驗可以達到如下目的。

   1)收集元器件在現(xiàn)場使用的工作可靠性數(shù)據(jù)，可以進行工作可靠性統(tǒng)計評估，為設(shè)備設(shè)計中確定元器件可靠性指標(biāo)提供依據(jù)；

   2)對元器件在實際使用條件下的失效率指標(biāo)與試驗室內(nèi)規(guī)定條件下獲得的基本失效率指標(biāo)進行比較，從而獲得各種元器件應(yīng)用環(huán)境和使用條件等影響的修正系數(shù)( Modified  Coefficient)；

   3)對元器件現(xiàn)場使用的失效分類統(tǒng)計，判別各類失效模式的百分比，為改進元器件可靠性提供依據(jù)。這不僅能促進該產(chǎn)品可靠性的提高，還為進一步研制新產(chǎn)品的可靠性設(shè)計與制造打下一個良好的基礎(chǔ)；