為評(píng)價(jià)、分析電子元器件的可靠性，在使用現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)稱為現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)。DL-1195-211K現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)可以真實(shí)地反映出產(chǎn)品在實(shí)際使用條件下的可靠性水平，因而是最符合實(shí)際情況的試驗(yàn)。上面幾種試驗(yàn)是在試驗(yàn)室中進(jìn)行的模擬試驗(yàn)，其正確與否，有待于實(shí)際使用或現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證。有時(shí)在試驗(yàn)室模擬試驗(yàn)沒(méi)有發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題，而在實(shí)際使用或現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)中會(huì)暴露出來(lái)。這是因?yàn)樵囼?yàn)室模擬試驗(yàn)只是選用一種或兩種應(yīng)力進(jìn)行的，而實(shí)際使用中，往往是多種應(yīng)力同時(shí)綜合作用于樣品上，它對(duì)元器件所帶來(lái)的影響是復(fù)雜的、綜合全面的，這不是試驗(yàn)室模擬試驗(yàn)所能完全達(dá)到的。因此，現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)或現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)是可

靠性工程的重要內(nèi)容，可以作為設(shè)訐、制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)來(lái)加以規(guī)定。現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)可以達(dá)到如下目的。

   1)收集元器件在現(xiàn)場(chǎng)使用的工作可靠性數(shù)據(jù)，可以進(jìn)行工作可靠性統(tǒng)計(jì)評(píng)估，為設(shè)備設(shè)計(jì)中確定元器件可靠性指標(biāo)提供依據(jù)；

   2)對(duì)元器件在實(shí)際使用條件下的失效率指標(biāo)與試驗(yàn)室內(nèi)規(guī)定條件下獲得的基本失效率指標(biāo)進(jìn)行比較，從而獲得各種元器件應(yīng)用環(huán)境和使用條件等影響的修正系數(shù)( Modified  Coefficient)；

   3)對(duì)元器件現(xiàn)場(chǎng)使用的失效分類(lèi)統(tǒng)計(jì)，判別各類(lèi)失效模式的百分比，為改進(jìn)元器件可靠性提供依據(jù)。這不僅能促進(jìn)該產(chǎn)品可靠性的提高，還為進(jìn)一步研制新產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)與制造打下一個(gè)良好的基礎(chǔ)；