濾光片是以確定的方式改變到達(dá)檢測(cè)器的輻射能的光譜分布、振動(dòng)方向和強(qiáng)度的元件。GAL16V8-20HC3有中性濾光片和干涉濾光片，其中中性濾光片主要是指在規(guī)定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)可以使到達(dá)檢測(cè)器的所有波長(zhǎng)的輻射功率衰減相同的倍數(shù)的一種濾光片；干涉濾光片是指利用厚度與波長(zhǎng)呈一定關(guān)系的一層或數(shù)層透明薄膜產(chǎn)生的干涉，使所需波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光透過(guò)或反射的濾光片。

   對(duì)于紅外探測(cè)器的應(yīng)用，濾波片必須滿足以下兩個(gè)條件：

   (1)根據(jù)具體應(yīng)用的要求，在紫外到遠(yuǎn)紅外區(qū)域內(nèi)限定敏感元件的光譜吸收區(qū)域；

   (2)實(shí)現(xiàn)敏感元件與外界環(huán)境之間的光學(xué)界面，并實(shí)現(xiàn)可靠的密封性能。

   結(jié)合紅外探測(cè)的基本原理和氣體檢測(cè)模型的假設(shè)，本書的設(shè)計(jì)選擇了干涉濾光片，通過(guò)干涉濾光片實(shí)現(xiàn)敏感元件對(duì)紅外輻射選擇性吸收，同時(shí)也有利于消除其他不相關(guān)的波長(zhǎng)區(qū)域內(nèi)的光譜影響。

   適應(yīng)于紅外探測(cè)器的窄帶通光學(xué)濾波片通常被制備在硅或者鍺基底上，這類光學(xué)濾波片通常采用BaF2、CaF2、KBr等晶體材料，或者硅材料。這種濾波片具有極窄的光譜通過(guò)性能，其中以德國(guó)的InfraTec公司生產(chǎn)的光學(xué)濾波片性能較優(yōu)越，本書中主要選用HC系列的作研究使用，具體材料為CaF2。一些相關(guān)的氣體檢測(cè)常用的濾波片的具體參數(shù)描述見表3.2[106]。