壽命試驗(yàn)是指評(píng)價(jià)分析產(chǎn)品壽命特征量的試驗(yàn)，它是在實(shí)驗(yàn)室里，模擬實(shí)際工作狀態(tài)或儲(chǔ)存狀態(tài)，C0402C102M5RAC7867投入一定數(shù)量的樣品進(jìn)行試驗(yàn)，記錄樣品數(shù)量、試驗(yàn)條件、失效個(gè)數(shù)、失效時(shí)間等，進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，從而評(píng)估產(chǎn)品的失效分布和各項(xiàng)可靠性指標(biāo)。對(duì)于電子元器件的壽命試驗(yàn)，現(xiàn)在采用較多的還是屬于破壞性的壽命試驗(yàn)。

   在確定和了解電子元器件及材料可靠性指標(biāo)的試驗(yàn)中，一般都在可靠性篩選和例行試驗(yàn)合格的產(chǎn)品中抽樣進(jìn)行。對(duì)于許多產(chǎn)品，可以認(rèn)為早期失效產(chǎn)品已經(jīng)剔除，其壽命分布已進(jìn)入偶然失效期，并且基本上屬于指數(shù)分布。即使有些產(chǎn)品不服以指數(shù)布，例如，服從威布爾分布，但其形狀參數(shù)m接近于1，可以用指數(shù)分布來近似。因此，研究符合指數(shù)分布情況的壽命試驗(yàn)具有普遍意義。

   由于一般電子元器件及材料的可靠性都很高，要使產(chǎn)品全部失效所需時(shí)間很長。另外，可靠性是統(tǒng)計(jì)概念，只要有一定的失效數(shù)據(jù)就可以用統(tǒng)計(jì)方法確定出可靠性指標(biāo)。也就是說，不必知道全部產(chǎn)品的失效數(shù)據(jù)。因此，在可靠性壽命試驗(yàn)中都采用截尾試驗(yàn)，按結(jié)束試驗(yàn)方式可分為定數(shù)截尾試驗(yàn)和定時(shí)截尾試驗(yàn)兩種。

   所謂定數(shù)截尾試驗(yàn)，就是指試驗(yàn)進(jìn)行到規(guī)定的失效數(shù)（或失效次數(shù)）后，停止其試驗(yàn)。

   所謂定時(shí)截尾試驗(yàn)，就是指試驗(yàn)進(jìn)行到規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間停止試驗(yàn)。

   在定數(shù)截尾和定時(shí)截尾試驗(yàn)中，又可以采用有替換和無替換兩種方式，即在試驗(yàn)中每現(xiàn)一個(gè)產(chǎn)品失效后，用同樣的好產(chǎn)品替換或不替換兩種方式。對(duì)于電子元器件常采用無替換方式，而電子設(shè)備或系統(tǒng)則采用有替換方式。