顯然，上式表C0402C102K3RACTU示觀測(cè)失效頻數(shù)與理論頻數(shù)之差的平方除以理論頻數(shù)，將所得的商相加，則得Z‘的統(tǒng)計(jì)量。從概率統(tǒng)計(jì)可以證明：理論統(tǒng)計(jì)學(xué)Z2是服從以K-l為自由度的Z2分布。因此，可根據(jù)（l-a）置信度和（K-l）=f自由度，查；（2分布的下側(cè)分位數(shù)表，可得Xf=K-l，．一。的理論統(tǒng)計(jì)量。

   將試驗(yàn)觀測(cè)值按上式計(jì)算得到的xi+統(tǒng)計(jì)量與理論統(tǒng)計(jì)量判別標(biāo)準(zhǔn)Xf =K-，,l-a進(jìn)行比較，如果則分布假設(shè)不正確。必須重新進(jìn)行假設(shè)，再按上述方法進(jìn)行檢測(cè)。

   囝鷹m某電子產(chǎn)品原來服從平均壽命盧為170小時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)偏差盯為110小時(shí)的正態(tài)分布。現(xiàn)從某批產(chǎn)品中隨機(jī)地抽取60只進(jìn)行高溫壽命試驗(yàn)，得到表3. 17所示的統(tǒng)計(jì)結(jié)果，試判斷該批產(chǎn)品的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)檢驗(yàn)是否服從N (170，1102)的正態(tài)分布。區(qū)間序號(hào)    區(qū)間端點(diǎn)值（小時(shí)）    失效觀測(cè)頻數(shù)（只）

   解：因?yàn)檎龖B(tài)分布函數(shù)F(f)一垂t-tLt，那么在i～i+1區(qū)間的頻率可由公式P：一西（墊專二笆）一西（生手笆）訐算出理論概率，得如下結(jié)果：