試驗(yàn)截止時(shí)間是壽命試驗(yàn)中的主要難點(diǎn)，它與樣品數(shù)量及所達(dá)到的失效數(shù)有關(guān)。 C0402KRX7R7BB103由于一般電子元器件壽命都非常長(zhǎng)，加之試驗(yàn)數(shù)據(jù)采用統(tǒng)計(jì)分析方法，故采用截尾試驗(yàn)。對(duì)于低應(yīng)力下的壽命試驗(yàn)，常采用定時(shí)截尾試驗(yàn)，即試驗(yàn)達(dá)到規(guī)定時(shí)間停止試驗(yàn)，般要求截止時(shí)間￡為平均壽命的1.6倍以上，如采用1000小時(shí)、5000小時(shí)或10000小時(shí)等；對(duì)于高應(yīng)力下的壽命試驗(yàn)，常采用定數(shù)截尾試驗(yàn)，即當(dāng)累計(jì)失效數(shù)或累積失效概率達(dá)到規(guī)定值，一般應(yīng)在30%、40%或50%以上時(shí)停止試驗(yàn)。試驗(yàn)停止時(shí)間一經(jīng)確定，在試驗(yàn)過(guò)程中不得變動(dòng)，以保證統(tǒng)計(jì)處理的正確性。

   對(duì)于指數(shù)分布，肖采用定數(shù)截尾試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)時(shí)間f與試驗(yàn)樣品數(shù)卵和所要求達(dá)到的失效概率F(t)一寺，可由下式確定只要估計(jì)出產(chǎn)品在該試驗(yàn)條件下的平均壽命m，即可估計(jì)出試驗(yàn)需時(shí)間。

   制定失效標(biāo)準(zhǔn)和失效判據(jù)

   如前所述，失效標(biāo)準(zhǔn)的制定就是明確判斷產(chǎn)品失效的技術(shù)指標(biāo)，其可以是產(chǎn)品完全失效，如擊穿、開(kāi)路、短路、燒毀等，也可以是部分失效，即產(chǎn)品的性能超過(guò)某種確定的界限，但沒(méi)有完全喪失規(guī)定功能的失效。一個(gè)產(chǎn)品往往有好幾項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)或性能參數(shù)，在壽命試驗(yàn)中規(guī)定：只要產(chǎn)品有一項(xiàng)指標(biāo)或參數(shù)超出了標(biāo)準(zhǔn)就判為失效。例如，陶瓷電容器的主要技術(shù)指標(biāo)有電容量的相對(duì)變化率等、絕緣電阻R、損耗角正切tan8、耐壓等，只要這些指標(biāo)中有一項(xiàng)超出了規(guī)定，就應(yīng)判為失效。如沒(méi)有特殊規(guī)定，通常都是以產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范中所規(guī)定的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)作為失效標(biāo)準(zhǔn)的判據(jù)。