對(duì)于可靠性高的電子元器件進(jìn)行長期壽命試驗(yàn)，無論是從成本還是從時(shí)間上來看，C0402KRX7R9BB221都是不合算的，甚至是不可能的。例如，人造地球衛(wèi)星上所使用的電子元器件，要求失效率小于2.6×10-8/小時(shí)，如果要驗(yàn)證它，抽取1000個(gè)元件進(jìn)行試驗(yàn)，若允許5個(gè)元件失效，則需試驗(yàn)22年。而對(duì)可靠性要求更高的元件，如果要求失效率小于l0-lo／小時(shí)，若按上面的試驗(yàn)方案，則需要進(jìn)行大約5700年的壽命試驗(yàn)，顯然這是不可能的。如果將壽命試驗(yàn)時(shí)間縮短為

1000小時(shí)，則試驗(yàn)元件數(shù)將分別增加到1.9×105和5×107個(gè)。這樣大量的試驗(yàn)，從人力或物力上都是極難實(shí)現(xiàn)的，甚至是不可能實(shí)現(xiàn)的。因此，提出了加速壽命試驗(yàn)的方法。

   加速壽命試驗(yàn)的目的概括起來有以下幾個(gè)。

   1)可以在較短時(shí)間內(nèi)用較少的元器件估計(jì)高度可靠元器件的高可靠性水平，運(yùn)用外推的方法能快速預(yù)測(cè)元器件在額定或?qū)嶋H使用條件下的可靠度或失效率；

   2)可以在較短時(shí)間內(nèi)提供試驗(yàn)結(jié)果，檢驗(yàn)工藝改進(jìn)效果，或比較不同工藝的好壞，對(duì)元器件可靠性設(shè)計(jì)和可靠性增長的效果進(jìn)行評(píng)價(jià)；

   3)在較短時(shí)間內(nèi)暴露元器件的失效類型及形式，以使對(duì)失效機(jī)理進(jìn)行研究，找出失效原因，從而可正確地確立失效判據(jù)和失效條件，為提高產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)；

   4)比較可靠性篩選效果，確定最好的篩選方法，以便選擇恰當(dāng)?shù)暮Y選方法，淘汰早期失效的產(chǎn)品；

   5)測(cè)定元器件某些極限的使用條件。

   但是，加速壽命試驗(yàn)不能完全代替正常使用條件下的壽命試驗(yàn)，它只是對(duì)壽命試驗(yàn)的一種近似估計(jì)。這是因?yàn)榧铀賶勖囼?yàn)?zāi)壳斑�存在不少困難；其一是對(duì)試驗(yàn)方法及測(cè)試條件的保證有嚴(yán)格的要求；其二是為了對(duì)試驗(yàn)結(jié)果做出正確的解釋，必須對(duì)產(chǎn)品的失效機(jī)理有較好的了解；其三是有多次的試驗(yàn)結(jié)果需要進(jìn)行比較和分析。但是，由于加速試驗(yàn)在理論上有一定的根據(jù)，而且能在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)產(chǎn)品的可靠性做出估計(jì)，因此該方法仍被廣泛地采用。