對飛機(jī)上電子設(shè)備用的某種電子元器件進(jìn)行現(xiàn)場無替換試驗
發(fā)布時間:2015/6/22 19:42:36 訪問次數(shù):1486
即抽取66個元件進(jìn)行額定試驗,抽取7個進(jìn)行加速試驗,在2000小時后看失效數(shù)是否大于1。若r≤1時,則鑒定合格;若r>l,則鑒定不合格。 MAX3485ESA+這里計算ni、咒。時,分別多加1個,這是考慮到試驗過程中允許發(fā)生一只失效,若不多投入1只樣品進(jìn)行試驗,則到2000小時時不能累計達(dá)到所需T。值,在近似值取值時,也是不足1時,均要取1。
翻腱脅某型號電阻已邐過5級定級試驗(置信度為60%,C=l,抽取102個樣品試驗了2000小時,樣品無1個失效),F(xiàn)要進(jìn)行6級的升級鑒定,準(zhǔn)備將5級試驗的102個樣品繼續(xù)試驗到10000小時,另外,每月再抽取若干個樣品投入試驗,要求與原來的102個
樣品共同達(dá)到10000小時之后試驗結(jié)束,并得出結(jié)論,問升級試驗方案如何安排?
解:
設(shè)升級試驗的置信度取60%,允許失效數(shù)C=l,查表3.20可得因為對102個樣品繼續(xù)試驗到10000小時,可以得到累計試驗時間為
Ti—102×10000 - 1020000(元件小時)尚少T2一2020000 -1020000一l06元件小時,需要從每月產(chǎn)品中抽取樣品投入試驗來完成。
因為從開始每月抽取樣品到試驗結(jié)束還要試驗8000小時,約近一年時間,若每月抽取K個樣品,那么第1個月可累計試驗時間為720K元件小時,第2個月可累計2×720K元件小時,……第12個月可計12×720K元件小時,顯然12個月中,每月抽K只,試驗結(jié)束共累計時間選K=18,即只要每月抽取18個樣品投入試驗,1,則升級試驗合格,否則升級試驗不合格。
習(xí)題
到試驗結(jié)束后,總的失效樣品數(shù)
1.對飛機(jī)上電子設(shè)備用的某種電子元器件進(jìn)行現(xiàn)場無替換試驗,其元件數(shù)n=39,記錄下 9次失效時間分別為:423,1090,2386,3029,3652,3925,8967,10957,11358小 時,求該電子元器件在飛機(jī)上使用的平均壽命、失效率及其在置信度90%下的平均壽命 區(qū)間估計值。
2.設(shè)某種晶體管共232個,在飛機(jī)環(huán)境下工作61小時,3個失效,求該晶體管在試驗條件下平均壽命的點(diǎn)估計值。
3. 3DK 7晶體管88個,在200℃進(jìn)行高溫儲存2000小時,試驗發(fā)現(xiàn)失效產(chǎn)品數(shù)與失效時間如下表所示:
求其點(diǎn)估計和區(qū)間估計的平均壽命值(區(qū)間估計采用90%置信度)。
即抽取66個元件進(jìn)行額定試驗,抽取7個進(jìn)行加速試驗,在2000小時后看失效數(shù)是否大于1。若r≤1時,則鑒定合格;若r>l,則鑒定不合格。 MAX3485ESA+這里計算ni、咒。時,分別多加1個,這是考慮到試驗過程中允許發(fā)生一只失效,若不多投入1只樣品進(jìn)行試驗,則到2000小時時不能累計達(dá)到所需T。值,在近似值取值時,也是不足1時,均要取1。
翻腱脅某型號電阻已邐過5級定級試驗(置信度為60%,C=l,抽取102個樣品試驗了2000小時,樣品無1個失效),F(xiàn)要進(jìn)行6級的升級鑒定,準(zhǔn)備將5級試驗的102個樣品繼續(xù)試驗到10000小時,另外,每月再抽取若干個樣品投入試驗,要求與原來的102個
樣品共同達(dá)到10000小時之后試驗結(jié)束,并得出結(jié)論,問升級試驗方案如何安排?
解:
設(shè)升級試驗的置信度取60%,允許失效數(shù)C=l,查表3.20可得因為對102個樣品繼續(xù)試驗到10000小時,可以得到累計試驗時間為
Ti—102×10000 - 1020000(元件小時)尚少T2一2020000 -1020000一l06元件小時,需要從每月產(chǎn)品中抽取樣品投入試驗來完成。
因為從開始每月抽取樣品到試驗結(jié)束還要試驗8000小時,約近一年時間,若每月抽取K個樣品,那么第1個月可累計試驗時間為720K元件小時,第2個月可累計2×720K元件小時,……第12個月可計12×720K元件小時,顯然12個月中,每月抽K只,試驗結(jié)束共累計時間選K=18,即只要每月抽取18個樣品投入試驗,1,則升級試驗合格,否則升級試驗不合格。
習(xí)題
到試驗結(jié)束后,總的失效樣品數(shù)
1.對飛機(jī)上電子設(shè)備用的某種電子元器件進(jìn)行現(xiàn)場無替換試驗,其元件數(shù)n=39,記錄下 9次失效時間分別為:423,1090,2386,3029,3652,3925,8967,10957,11358小 時,求該電子元器件在飛機(jī)上使用的平均壽命、失效率及其在置信度90%下的平均壽命 區(qū)間估計值。
2.設(shè)某種晶體管共232個,在飛機(jī)環(huán)境下工作61小時,3個失效,求該晶體管在試驗條件下平均壽命的點(diǎn)估計值。
3. 3DK 7晶體管88個,在200℃進(jìn)行高溫儲存2000小時,試驗發(fā)現(xiàn)失效產(chǎn)品數(shù)與失效時間如下表所示:
求其點(diǎn)估計和區(qū)間估計的平均壽命值(區(qū)間估計采用90%置信度)。
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