失效分析在電子元器件可靠性中的作用
發(fā)布時(shí)間:2015/6/25 21:44:12 訪問次數(shù):499
失效分析在電子元器件可靠性中的作用,可以結(jié)HD61747B10 合以下三個(gè)方面進(jìn)行說明。
1)從原材料進(jìn)廠、生產(chǎn)、使用出現(xiàn)失效到可靠性的質(zhì)量反饋的全過程,失效分析是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)。只有經(jīng)過失效分析來確認(rèn)并提供各種信息,才能使可靠性提高,做到心中有數(shù)、有的放矢。
2)生產(chǎn)過程的可靠性監(jiān)督和質(zhì)量保證措施,要通過失效分析來加以鑒定和確認(rèn)。
3)工藝改進(jìn)和工藝措施效果的比較也與失效分析密切有關(guān),因此,失效分析是可靠性工程的最重要環(huán)節(jié)之一。
一個(gè)完整的失效分析,應(yīng)包括以下幾方面的內(nèi)容。
·調(diào)查失敖現(xiàn)象,分析失效數(shù)據(jù)
準(zhǔn)確地收集和統(tǒng)計(jì)電子元器件失效的數(shù)據(jù),對(duì)以后能否確切判斷失效品的失效模式和失效機(jī)理,并得以分析證實(shí)都具有直接的作用。例如,在試驗(yàn)或使用過程中,產(chǎn)品電性能表現(xiàn)為開路、短路、電參數(shù)退化或漂移超過標(biāo)準(zhǔn)等失效現(xiàn)象,并詳細(xì)記錄失效時(shí)的情況,如工作時(shí)間、日期、產(chǎn)品使用環(huán)境和條件(如用途、環(huán)境、運(yùn)行類型、工作條件及應(yīng)力等)。
·比較、分析失效數(shù)據(jù),鑒別失效模式
根據(jù)觀察到的效應(yīng)和現(xiàn)象進(jìn)行分析,確定失效的可能部位或可能原因。例如,開路這一現(xiàn)象的原因可能是內(nèi)部引線焊絲與電容器極板壓焊點(diǎn)脫開,或者是引線折斷。
失效分析在電子元器件可靠性中的作用,可以結(jié)HD61747B10 合以下三個(gè)方面進(jìn)行說明。
1)從原材料進(jìn)廠、生產(chǎn)、使用出現(xiàn)失效到可靠性的質(zhì)量反饋的全過程,失效分析是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)。只有經(jīng)過失效分析來確認(rèn)并提供各種信息,才能使可靠性提高,做到心中有數(shù)、有的放矢。
2)生產(chǎn)過程的可靠性監(jiān)督和質(zhì)量保證措施,要通過失效分析來加以鑒定和確認(rèn)。
3)工藝改進(jìn)和工藝措施效果的比較也與失效分析密切有關(guān),因此,失效分析是可靠性工程的最重要環(huán)節(jié)之一。
一個(gè)完整的失效分析,應(yīng)包括以下幾方面的內(nèi)容。
·調(diào)查失敖現(xiàn)象,分析失效數(shù)據(jù)
準(zhǔn)確地收集和統(tǒng)計(jì)電子元器件失效的數(shù)據(jù),對(duì)以后能否確切判斷失效品的失效模式和失效機(jī)理,并得以分析證實(shí)都具有直接的作用。例如,在試驗(yàn)或使用過程中,產(chǎn)品電性能表現(xiàn)為開路、短路、電參數(shù)退化或漂移超過標(biāo)準(zhǔn)等失效現(xiàn)象,并詳細(xì)記錄失效時(shí)的情況,如工作時(shí)間、日期、產(chǎn)品使用環(huán)境和條件(如用途、環(huán)境、運(yùn)行類型、工作條件及應(yīng)力等)。
·比較、分析失效數(shù)據(jù),鑒別失效模式
根據(jù)觀察到的效應(yīng)和現(xiàn)象進(jìn)行分析,確定失效的可能部位或可能原因。例如,開路這一現(xiàn)象的原因可能是內(nèi)部引線焊絲與電容器極板壓焊點(diǎn)脫開,或者是引線折斷。
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