電阻器儲存時間要占其總壽命的一半以上，特別是對軍用電子設(shè)備中所使用的元器件尤為突出。因此， FBMH2012HM221-T儲存的穩(wěn)定性對失效影響是很重要的。儲存過程是電阻器或快或慢發(fā)生的緩慢老化過程。

   上述各影響因素與儲存期限、環(huán)境條件、電阻器的型號、結(jié)構(gòu)和阻值大小有關(guān)，圖5.4是非線繞電阻器各影響因素與時間的關(guān)系圖。

   電負荷老化的影響

   在任何場合，電負荷均加速電阻器的老化過程。一般地說，增加電負荷促使老化比升高周圍環(huán)境溫度促使老化要快。這是因為導(dǎo)電體和接觸部分的溫升總是超過電阻發(fā)熱的平均溫度。當(dāng)有潮氣存在時．電壓還會引起電解，加速老化進程．特別是當(dāng)刻槽

電阻體間隙間存在較大的電位梯度時，這個問題顯得更加突出。