電阻器在電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，FBMH2012HM331-T而且是發(fā)熱元件，因而由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率也相圖5.4非線繞電阻器各影響因素隨時(shí)間的變化當(dāng)高，據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器的失效模式和原因與其產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)使用失效情況統(tǒng)計(jì)，電阻器各種失效模式的分布情況見表5.1。

   顯然，非線繞電阻器和電位器的主要失效模式為開路、阻值漂移、引線機(jī)械損傷、接觸損壞；而線繞電阻器和電值器的主要失效模式為開路、引線機(jī)械損傷和接觸損壞。

   電阻器失效機(jī)理視電阻器的類型不同而不同，主要有以下類型。

   1)碳膜電阻器：引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線端接觸不良、膜與基體污染等。

   2)金屬膜電阻器：電阻膜不均勻、電阻膜破裂、基體破裂、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線斷裂、電暈放電等。

   3)線繞電阻器：繞組斷線、電流腐蝕、引線接合不牢、線材絕緣不好、焊點(diǎn)熔解等。

   4)可變電阻器：接觸不良、焊接不良、接觸簧片破裂或引線脫落、雜質(zhì)污染、環(huán)氧膠接不好、軸傾斜等。