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金屬膜電阻器的失效分析

發(fā)布時(shí)間:2015/6/28 19:51:35 訪問次數(shù):2681

   金屬膜電阻器是以合金粉為原材料,通過真空高溫蒸發(fā)的方式,MCBX167-NET將其沉積在絕緣瓷棒上,形成一層金屬膜,然后,進(jìn)行高溫?zé)崽幚,使之形成結(jié)構(gòu)致密、完善、電性能優(yōu)良的電阻膜。然后,再通過加引線帽,切割螺旋槽,調(diào)整阻值,涂護(hù)漆層等工藝而形成。

   金屬膜電阻器的失效模式主要有:開路、短路、阻值的異常漂移和超差(out oftolerance.超出標(biāo)準(zhǔn)值的公差范圍)等。這些失效與產(chǎn)品生產(chǎn)過程和使用條件以及本身存在各種缺陷有密切關(guān)系。導(dǎo)致電阻器開路的失效機(jī)理主要原因有:瓷心基體破裂、電阻膜破裂,電阻膜分解以及引線斷裂等。導(dǎo)致短路的原因有:電暈放電、銀遷移等。阻值的異常漂移和超差是金屬膜電阻失效的主要模式。它是由于導(dǎo)電膜層的厚度不均勻,有疵點(diǎn)、膜層的螺旋槽間有導(dǎo)電沾污物,以及膜層與帽蓋的接觸不良等原因,這些原因均導(dǎo)致電壓分布不均勻,存在著很高的電位梯度和嚴(yán)重的局部過熱,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致?lián)舸┗驘龤АMǔS扇?/span>陷引入潮氣可使金屬膜電阻器局部電解,從而使阻值發(fā)生顯著的漂移,或加速膜層的氧化

和有機(jī)材料的顯著老化,然后也引起阻值的顯著漂移。

   金屬膜電阻器是以合金粉為原材料,通過真空高溫蒸發(fā)的方式,MCBX167-NET將其沉積在絕緣瓷棒上,形成一層金屬膜,然后,進(jìn)行高溫?zé)崽幚,使之形成結(jié)構(gòu)致密、完善、電性能優(yōu)良的電阻膜。然后,再通過加引線帽,切割螺旋槽,調(diào)整阻值,涂護(hù)漆層等工藝而形成。

   金屬膜電阻器的失效模式主要有:開路、短路、阻值的異常漂移和超差(out oftolerance.超出標(biāo)準(zhǔn)值的公差范圍)等。這些失效與產(chǎn)品生產(chǎn)過程和使用條件以及本身存在各種缺陷有密切關(guān)系。導(dǎo)致電阻器開路的失效機(jī)理主要原因有:瓷心基體破裂、電阻膜破裂,電阻膜分解以及引線斷裂等。導(dǎo)致短路的原因有:電暈放電、銀遷移等。阻值的異常漂移和超差是金屬膜電阻失效的主要模式。它是由于導(dǎo)電膜層的厚度不均勻,有疵點(diǎn)、膜層的螺旋槽間有導(dǎo)電沾污物,以及膜層與帽蓋的接觸不良等原因,這些原因均導(dǎo)致電壓分布不均勻,存在著很高的電位梯度和嚴(yán)重的局部過熱,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致?lián)舸┗驘龤。通常由?/span>陷引入潮氣可使金屬膜電阻器局部電解,從而使阻值發(fā)生顯著的漂移,或加速膜層的氧化

和有機(jī)材料的顯著老化,然后也引起阻值的顯著漂移。

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6-28金屬膜電阻器的失效分析
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