電位器的失效分析
發(fā)布時間:2015/6/28 19:53:27 訪問次數(shù):1019
從前面的介紹中知，MCF5271CAB100線繞或非線繞電位器共同的失效模式有：參數(shù)漂移、開路、短路、接觸不良、動噪聲大、機械損傷等，但是，實際數(shù)據(jù)表明，試驗室試驗與現(xiàn)場使用之間主要的失效模式差異較大。表5.3列出了它們之間的失效模式分布百分比數(shù)據(jù)。
表5.3 電位器在試驗室與現(xiàn)場使用中的失效模式分布
從前面的介紹中知，MCF5271CAB100線繞或非線繞電位器共同的失效模式有：參數(shù)漂移、開路、短路、接觸不良、動噪聲大、機械損傷等，但是，實際數(shù)據(jù)表明，試驗室試驗與現(xiàn)場使用之間主要的失效模式差異較大。表5.3列出了它們之間的失效模式分布百分比數(shù)據(jù)。
表5.3 電位器在試驗室與現(xiàn)場使用中的失效模式分布
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