如前所述，隨著IPA60R380E6集成電路規(guī)模的增大，應(yīng)將降額應(yīng)用、冗余應(yīng)用等可靠性應(yīng)用技術(shù)于電路中對可靠性起關(guān)鍵作用的元器件。所謂關(guān)鍵器件，既要分析該器件工作時所受應(yīng)力的大小，同時也要分析可靠性對這一器件靈敏度高低的影響。也就是說，要根據(jù)兩者的綜合效果來決定。因此，在應(yīng)用中，應(yīng)重點考慮哪些元器件離不開靈敏度分析。是一個256KB DRAM中使用的預(yù)充電電路，為了改善其熱載流子可靠性，應(yīng)重點考慮哪一個晶體管呢？電路分析表明，M4管受到的電應(yīng)力作用最強，但靈敏度分析表明，電路特性參數(shù)對M4管的靈敏度極低，而對Ml管的靈敏度很高。應(yīng)力與特性靈敏度乘積表明，Ml管是應(yīng)該重點注意的關(guān)鍵器件。通過對Ml管進行可靠性設(shè)計，取得了明顯效果。

   由于靈敏度的不同，財于電路中不同元器件，即使其值變化幅度（或相對變化）相同，電路參數(shù)特性變化的絕對值也會不同，甚至其變化的方向相反。當(dāng)電路中多個元器件同時變化時，它們對電路特性的影響會起相互“抵消”的作用。進行最壞情況分析(Worst CaseAnalysis)時，是按電路特性向同一方向變化的要求，確定每個元器件的（增、減）變化方向，然后再使這些元器件同時變化并進行電路分析，檢查在這種最壞情況下電路特性的變化。