待測物遮擋部分或全部光束，或周D0900BA期性地遮擋光束，如圖1.8所示。根據被遮擋光通量的大小就可確定待測物的大小或待測物的位移量。設待測物體寬度為6，物體遮擋光的位移量為出，則物體遮擋入射到光電探測器上的光面積的增量AS為

   AS：a2bAI

   式中，a為光學系統(tǒng)的橫向放大倍數。光電探測器輸出位移量的電信號為

   Us=EvAsp= Eya2bAip    (1.6)

   由式(1.6)可知，應用此種方式，可對物體的位移量和物體的尺寸進行檢測，光電測微計和光電投影尺寸檢測儀等均為此種方式。

   如果待測物掃過入射光束，光電探測器接收到的光通量就要發(fā)生有、無兩種狀態(tài)的變化，輸出的電信號為脈沖形式，根據被遮擋光束的次數就可確定待測物體的個數，或者待測物體的運動速度等，相應地可用于產品計數、光控開關及防盜報警等。