光輻射入射到本征或非本征羋導(dǎo)體材料上，開始時(shí)隨時(shí)間的增加光生載流子逐漸增加，K4D26323RA-GC33經(jīng)過一定時(shí)間后，載流子濃度才逐漸趨于一穩(wěn)定值。此后，若突然遮斷入射的光輻射，光生載流子并不立即下降到照射前的水平，而是經(jīng)過一定時(shí)間才趨于照射前的水平，這種現(xiàn)象稱為光電導(dǎo)的弛豫現(xiàn)象。光輻射入射到本征或非本征半導(dǎo)體材料上，建立穩(wěn)定的光生載流子濃度所需要的時(shí)間，或停止照射后光生載流子濃度下降到照射前的水平所需要的時(shí)間，稱為光電導(dǎo)的弛豫時(shí)間或時(shí)間常數(shù)�？梢�證明，對(duì)于無“陷阱”存在的本征半導(dǎo)體，其時(shí)間常數(shù)與載流子壽命相等。弛豫時(shí)間的長短反映了光電導(dǎo)惰性的大小。在某些應(yīng)用中要求光電導(dǎo)的惰性盡量小，否則光電導(dǎo)就跟不上入射光輻射的變化。

    圖4.4示出了本征光電導(dǎo)上升和下降的弛豫過程。

    圖4.4本征光電導(dǎo)上升和下降的弛豫過程