近年來，由于激光和光電技術(shù)在信息與軍事方面的飛速發(fā)展，出現(xiàn)了探測精細(xì)表面下細(xì)小缺陷的難題。一方面表面質(zhì)量越來越受到重視，因?yàn)閺?qiáng)激光、 AAT3520IGY-2.63-200T1高靈敏度光電探測裝置等都離不開超精細(xì)反射面；另一方面，集成電路技術(shù)與精密機(jī)械制造技術(shù)相結(jié)合的微電子機(jī)械系統(tǒng)( MEMS)已經(jīng)引出了微型飛行器、微型衛(wèi)星、微型機(jī)器人等一系列新技術(shù)，為了使這些技術(shù)能批量生產(chǎn)，形成商品，需要齊全的質(zhì)量檢測手段。目前，表面無損檢測技術(shù)已經(jīng)比較成熟，但對精細(xì)表面下的亞表面卻沒有理想的檢測手段。

   對精細(xì)表面下( 0.5～7 mm)細(xì)小缺陷的傳統(tǒng)檢測方法，如滲透法，只適合于檢測表面開口缺陷；，，射線照相法、超聲波檢測法等適合于探測深層內(nèi)部缺陷；磁粉檢測和電磁感應(yīng)檢測，影響因素復(fù)雜，檢測分辨率低。磁光渦流成像(MOI)技術(shù)是一種新興的渦流無損檢測方法，它綜合應(yīng)用了法拉第電渦流效應(yīng)與法拉第磁致旋光效應(yīng)，可實(shí)現(xiàn)對亞表面細(xì)小缺陷的可視化無損檢測。

   當(dāng)一束線偏振光通過非旋光性介質(zhì)時(shí)，如果沿著光的傳播方向加一外磁場，則光通過介質(zhì)后，它的振動(dòng)面舍偏轉(zhuǎn)一個(gè)角度臼，這就是法拉第磁致旋光效應(yīng)或法拉第磁光效應(yīng)，如圖11.22所示，通過對自然旋光現(xiàn)象和法拉第磁光效應(yīng)的研究可以得知，介質(zhì)的自然旋光效應(yīng)主要與晶體的微觀螺旋結(jié)構(gòu)有關(guān)，而磁光效應(yīng)不僅與晶體結(jié)構(gòu)有關(guān)，還與晶體材料的磁性、光的波長、外磁場的強(qiáng)度和頻率以及磁化強(qiáng)度等參量有密切的關(guān)系。