除了元器件容差參數(shù)以外，MC分析中其他需要設(shè)置的參數(shù)都是在分析參數(shù)設(shè)置對話框中完成的。AD586LN在圖3-4所示電路特性分析對話框的Options -欄選擇“Monte CarIo[Worst Case”，屏幕上出現(xiàn)圖4-11所示設(shè)置窗口。

   下面介紹圖4-11中與MC分析有關(guān)的設(shè)置。

   (1)咆路特性基本分析類型的設(shè)置。在圖4-11的“Analysis type”一欄，選定要進(jìn)行MC分析的電路基本特性分析類型。圖中選擇的是AC Sweep/Noise。

   (2)選定MC分析。在圖4-11的Options -欄選擇“Monte Carlo/Worst Case”，然后在其右側(cè)選中“Monte Carlo”項(xiàng)。

   (3)輸出變量名的設(shè)置。在“Oyput variable”對話框中填入電路輸出特性變量名。該名應(yīng)符合1.3節(jié)的規(guī)定。

   (4)分析次數(shù)的設(shè)置。在Monte Carlo options下方的Number of runs對話框中填入要重復(fù)進(jìn)行分析的次數(shù)，代表實(shí)際生產(chǎn)多少套電路。分析中第一次為標(biāo)稱值分析，然后采用隨機(jī)抽樣方式改變

電路中元器件模型參數(shù)值，重復(fù)進(jìn)行分析。顯然，分析次數(shù)越多，統(tǒng)計(jì)分析的效果越好，但是運(yùn)行時(shí)間也就越長。因此，應(yīng)在綜合運(yùn)行效果和運(yùn)行時(shí)間的基礎(chǔ)上選定合適的運(yùn)行次數(shù)。