壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中最重要、最基本的內(nèi)容之一。它是將樣品放在特走的試驗(yàn)條件下，AD1851R測量其失效（損耗）的數(shù)量隨時間的分布情況。因?yàn)槭前聪群蟠涡虺霈F(xiàn)的，所以可利用次序統(tǒng)計(jì)量理論來分析壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)，從而可以確定產(chǎn)品的壽命特征、失效分布規(guī)律，計(jì)算產(chǎn)品的失效率和平均壽命等可靠性指標(biāo)。此外，還可以從中確定產(chǎn)品合理的可靠性篩選工藝及條件，進(jìn)一步改進(jìn)保證產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。

   壽命試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目來劃分，可分為長期壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)，長期壽命試驗(yàn)又分為長期儲存壽命試驗(yàn)和長期工作壽命試驗(yàn)，兩者的不同點(diǎn)僅僅在于所加應(yīng)力條件不同，其試驗(yàn)方法和數(shù)據(jù)處理是相同的。

   儲存壽命試驗(yàn)是指模擬電子產(chǎn)品在規(guī)定環(huán)境條件下處于非工作狀態(tài)時，評價其存放壽命的試驗(yàn)。試驗(yàn)周期在lOOOh以上的稱為長期儲存壽命試驗(yàn)。長期儲存壽命試驗(yàn)將產(chǎn)品置于規(guī)定的環(huán)境條件下儲存（只施加環(huán)境應(yīng)力，不施加電應(yīng)力），以確定儲存壽命和失效率。環(huán)境條件要根據(jù)使用情況來定。我國疆域遼闊，環(huán)境條件差別很大，以在確定環(huán)境條件時，一定要了解使用方對器件使用環(huán)境的要求。由于儲存試驗(yàn)在非工作狀態(tài)進(jìn)行，電子產(chǎn)品一般失效率較低，壽命較長，需要抽出較多的樣品進(jìn)行較長的時間來做試驗(yàn)，周期長達(dá)3～5年或更長。通過試驗(yàn)所積累的數(shù)據(jù)，對于提高產(chǎn)品質(zhì)量，預(yù)測產(chǎn)品的可靠性是很有價值的。