楊氏( Young)雙縫干涉是一種簡單而經典的觀察干涉現(xiàn)象的裝置。 ICE2PCS01G一束單色光入射到一個不透明的屏上，屏上刻有兩條相距為d的細狹縫Sl和S2，則在與狹縫屏相距為L的觀察屏上可得到明暗相間的干涉條紋。當L》d時，可近似得出觀察屏上任意點P處由Sl和S2兩束光之間產生的相位差為（設兩波源S，和S2之間的初相差為零）

   基于楊氏雙縫干涉原理可演變出其他干涉儀，如瑞利（Rayleigh）干涉儀等，可用于各種氣體或液體的折射率測量。

   多光束干涉儀——法布里一柏羅干涉儀（F-P干涉儀）

   以上討論的干涉系統(tǒng)都是基于兩路相干光波的疊加而產生的干涉，而利用多光束干涉儀由于具有干涉條紋細銳、分辨率高等特點，同樣成為光電檢測技術中常用的干涉裝置�，F(xiàn)以法布里一柏羅干涉儀為例，介紹多光束干涉系統(tǒng)。其基本原埋，它是由兩個鍍有高反射率膜層的平行反射平面組成的結構。光波在這兩個平行反射面之間被多次反射和透射，各透道光波（或反射光波）的多光束疊加形成多光束干涉。