PL譜在表征和研究材料以及材料內(nèi)部的動(dòng)態(tài)過(guò)程方面非常有效。但是,與其他的實(shí)驗(yàn)手BAV23A段類(lèi)似,PL譜并不能全面地給出某一特定材料的各方面的特性。比如,PL譜雖然能夠給出材料系統(tǒng)的本征值,但是不能給出材料本征態(tài)波函數(shù)、發(fā)光過(guò)程中暫態(tài)動(dòng)能、輸運(yùn)動(dòng)力學(xué)和空間分布的特征。為此,人們將常規(guī)光致發(fā)光譜進(jìn)行了拓展,發(fā)展了時(shí)間分辨(timc-resolⅤed)光致發(fā)光譜、空間分(spatia11y-rcso1Ved)光致發(fā)光譜以及近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微法。時(shí)間分辨的光致發(fā)光譜能夠提供有關(guān)表面復(fù)合、復(fù)合動(dòng)力學(xué)以及輸運(yùn)動(dòng)力學(xué)等方面的信息,并且此技術(shù)對(duì)波函數(shù)非常敏感�？臻g分辨光致發(fā)光譜對(duì)樣品的不均勻性和輸運(yùn)特征敏感。而最近發(fā)展起來(lái)的近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微法被用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料的表面形貌。

   綜合而言,光致發(fā)光譜在測(cè)量和表征半導(dǎo)體材料的特征方面發(fā)揮著十分重要的作用。主要表現(xiàn)為4個(gè)方面:①測(cè)量材料的發(fā)光效率;②材料的組分(如合金);③雜質(zhì)成分;④薄層厚度(如量子阱厚度)等。