輸人、輸出電阻測(cè)量電路
發(fā)布時(shí)間:2016/12/24 20:18:06 訪問次數(shù):445
放大器輸入電阻的大小,表示該放大器從信號(hào)源或前級(jí)放大器獲取多少電流,為前級(jí)電路設(shè)計(jì)提供負(fù)載條件。M27C512-12FI可用串接電阻法測(cè)量Ri,。為了測(cè)量放大器的輸入電阻,即在信號(hào)源與放大器輸入端之間串接一個(gè)已知電阻Rs,在放大器正常工作的情況下,用交流毫伏表測(cè)出LIs和Ui.貝刂根據(jù)輸人電阻的定義可得測(cè)量時(shí)應(yīng)注意:
①由于電阻Rs兩端沒有電路公共接地點(diǎn),而電壓表一般測(cè)量的是對(duì)地的交流電壓,所以,當(dāng)測(cè)量Rs兩端的電壓UR時(shí),必須分別測(cè)量Rs兩端對(duì)地的電壓Us和Ui,然后再求出UR。實(shí)際測(cè)量時(shí),電阻Rs的數(shù)值不宜取得過大,否則容易引人干擾,但也不宜取得過小,否則測(cè)量誤差較大。通常取Rs與Ri為同一數(shù)量級(jí)比較合適,本實(shí)驗(yàn)取Rs為1kΩ。
②測(cè)量之前,毫伏表應(yīng)該校零,LJs和Ui最好用同一量程擋進(jìn)行測(cè)量。
放大器輸入電阻的大小,表示該放大器從信號(hào)源或前級(jí)放大器獲取多少電流,為前級(jí)電路設(shè)計(jì)提供負(fù)載條件。M27C512-12FI可用串接電阻法測(cè)量Ri,。為了測(cè)量放大器的輸入電阻,即在信號(hào)源與放大器輸入端之間串接一個(gè)已知電阻Rs,在放大器正常工作的情況下,用交流毫伏表測(cè)出LIs和Ui.貝刂根據(jù)輸人電阻的定義可得測(cè)量時(shí)應(yīng)注意:
①由于電阻Rs兩端沒有電路公共接地點(diǎn),而電壓表一般測(cè)量的是對(duì)地的交流電壓,所以,當(dāng)測(cè)量Rs兩端的電壓UR時(shí),必須分別測(cè)量Rs兩端對(duì)地的電壓Us和Ui,然后再求出UR。實(shí)際測(cè)量時(shí),電阻Rs的數(shù)值不宜取得過大,否則容易引人干擾,但也不宜取得過小,否則測(cè)量誤差較大。通常取Rs與Ri為同一數(shù)量級(jí)比較合適,本實(shí)驗(yàn)取Rs為1kΩ。
②測(cè)量之前,毫伏表應(yīng)該校零,LJs和Ui最好用同一量程擋進(jìn)行測(cè)量。
上一篇:輸出電阻的測(cè)量
熱門點(diǎn)擊
- 云母電容(型號(hào)為CY)
- 測(cè)試74LS163計(jì)數(shù)器的各項(xiàng)邏輯功能
- 用基本RS觸發(fā)器組成一個(gè)無抖動(dòng)的開關(guān)
- 熟練掌握常用邏輯門及三態(tài)門的邏輯功能
- 按故障影響范圍和程度分類
- 放大器靜態(tài)工作點(diǎn)的測(cè)量與調(diào)試
- 測(cè)試負(fù)反饋放大器的各項(xiàng)性能指標(biāo)
- 補(bǔ)償電容器的檢測(cè)方法
- NI Multisim13簡(jiǎn)介
- 輸出FSK調(diào)制波形
推薦技術(shù)資料
- AMOLED顯示驅(qū)動(dòng)芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計(jì)
- GB300 超級(jí)芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個(gè)最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究