測(cè)試時(shí)要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制,調(diào)制深度為⑽%,調(diào)制)。將來(lái)有可能再增加一項(xiàng)鍵控調(diào)頻(歐共體標(biāo)準(zhǔn)已采用).

   測(cè)試在電波暗室中進(jìn)行(圖B10所示),用監(jiān)視器監(jiān)視試品的I作情況(或從試品引出可以說(shuō)明試品△INA199A1DCKR作狀態(tài)的信號(hào)至測(cè)定室,由專(zhuān)門(mén)儀器予以判定)c暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及監(jiān)視器。I作人員、測(cè)定試品性能的儀器(信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)各在測(cè)定室里:高頻功率放大器則放在功放室里。測(cè)試中,對(duì)試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時(shí)重現(xiàn)測(cè)試結(jié)果: