ESD干擾原理可以從兩方面來考慮
發(fā)布時間:2018/2/17 21:16:27 訪問次數(shù):438
從EsD測試配置描述可以看出,在進(jìn)行ESD測試時,需要將靜電槍的接地線接至參考接地板(參考接地板接安全地),EUT放置于參考接地板之上(通過臺面或0.1m高的支架), M25P16-VMF6TP靜電放電槍頭指向EUT中各種可能會被手觸摸到的部位或水平耦合板和垂直耦合板,這就決定了EsD測試是一種以共模為主的抗擾度測試,閃為ESD電流最終總要流向參考接地板⊙
ESD干擾原理可以從兩方面來考慮。首先,當(dāng)靜電放電現(xiàn)象發(fā)生在EUT中被測部位時,伴隨著ESD放電電流也將產(chǎn)生,分析這些EsD放電電流的路徑和電流大小具有極其重要的意義。值得注意的是,ESD接觸放電電流波形的上升沿時間會在1ns以下,這意味著ESD是一種高頻現(xiàn)象。ESD放電電流路徑與大小不但由EUT的內(nèi)部實際連接關(guān)系(這部分連接主要在電路原理圖中體現(xiàn))決定,而且還會受這種分布參數(shù)的影響。圖1.35表達(dá)了某一產(chǎn)品進(jìn)行ESD測試時的ESD放電電流分布路徑。圖1.35中的C"、C”、C"分別是放電點與內(nèi)部電路之問的寄生電容、電纜與參考接地板之間的寄生電容和EUT殼體與參考接地板之間的寄生電容。這些電容的大小都會影響各條路徑上的ESD電流大小c設(shè)想一下,如果有一條ESD電流路徑包含了產(chǎn)品的內(nèi)部I作電路,那么該產(chǎn)品在進(jìn)行ESD測試時受ESD的影響
就會很大;反之則產(chǎn)品更容易通過ESD測試。可見,如果產(chǎn)品的設(shè)計能避免ESD共模電流流過產(chǎn)品內(nèi)部電路,那么這個產(chǎn)品的抗ESD干擾的設(shè)計是成功的,ESD抗擾度測試實質(zhì)上包含了一個瞬態(tài)共模電流(ESD電流)流過產(chǎn)品(瞬態(tài)共模電流干擾正常工作電路的原理,請參考1.5.5節(jié)的描述)。
從EsD測試配置描述可以看出,在進(jìn)行ESD測試時,需要將靜電槍的接地線接至參考接地板(參考接地板接安全地),EUT放置于參考接地板之上(通過臺面或0.1m高的支架), M25P16-VMF6TP靜電放電槍頭指向EUT中各種可能會被手觸摸到的部位或水平耦合板和垂直耦合板,這就決定了EsD測試是一種以共模為主的抗擾度測試,閃為ESD電流最終總要流向參考接地板⊙
ESD干擾原理可以從兩方面來考慮。首先,當(dāng)靜電放電現(xiàn)象發(fā)生在EUT中被測部位時,伴隨著ESD放電電流也將產(chǎn)生,分析這些EsD放電電流的路徑和電流大小具有極其重要的意義。值得注意的是,ESD接觸放電電流波形的上升沿時間會在1ns以下,這意味著ESD是一種高頻現(xiàn)象。ESD放電電流路徑與大小不但由EUT的內(nèi)部實際連接關(guān)系(這部分連接主要在電路原理圖中體現(xiàn))決定,而且還會受這種分布參數(shù)的影響。圖1.35表達(dá)了某一產(chǎn)品進(jìn)行ESD測試時的ESD放電電流分布路徑。圖1.35中的C"、C”、C"分別是放電點與內(nèi)部電路之問的寄生電容、電纜與參考接地板之間的寄生電容和EUT殼體與參考接地板之間的寄生電容。這些電容的大小都會影響各條路徑上的ESD電流大小c設(shè)想一下,如果有一條ESD電流路徑包含了產(chǎn)品的內(nèi)部I作電路,那么該產(chǎn)品在進(jìn)行ESD測試時受ESD的影響
就會很大;反之則產(chǎn)品更容易通過ESD測試?梢,如果產(chǎn)品的設(shè)計能避免ESD共模電流流過產(chǎn)品內(nèi)部電路,那么這個產(chǎn)品的抗ESD干擾的設(shè)計是成功的,ESD抗擾度測試實質(zhì)上包含了一個瞬態(tài)共模電流(ESD電流)流過產(chǎn)品(瞬態(tài)共模電流干擾正常工作電路的原理,請參考1.5.5節(jié)的描述)。
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