溝道遷移率全球最高的碳化硅半導(dǎo)體在日本問(wèn)世
發(fā)布時(shí)間:2007/8/30 0:00:00 訪問(wèn)次數(shù):808
日本原子能研究所與獨(dú)立行政法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)綜研),日前成功地聯(lián)合開(kāi)發(fā)出了采用碳化硅半導(dǎo)體底板的晶體管。作為晶體管性能指標(biāo)的溝道遷移率(電子活動(dòng)的難易度),突破了實(shí)用化所要求的標(biāo)準(zhǔn)(200cm2/Vs),達(dá)到了全球最高水平,即 230cm2/Vs。如果碳化硅半導(dǎo)體得以實(shí)現(xiàn),就能開(kāi)發(fā)出比過(guò)去的硅半導(dǎo)體體積更小、耗電量更低的半導(dǎo)體元件?稍陔娏Α㈣F路和家電等各種領(lǐng)域當(dāng)作電力控制元件來(lái)使用。另外,由于抗放射線特性比硅元件高數(shù)十倍,因此在航天和原子能領(lǐng)域也有望用來(lái)“抗放射線輻射”。
碳化硅由硅元素和碳元素構(gòu)成,因元素排列方式的不同、有很多種結(jié)晶類型。其中,立方體單結(jié)晶的電氣特性最好,不過(guò),高品質(zhì)結(jié)晶不易培育,必須開(kāi)發(fā)結(jié)晶生長(zhǎng)技術(shù)。另外,要想制作碳化硅元件,關(guān)鍵在于對(duì)形成pn結(jié)時(shí)必須的導(dǎo)電類型的控制以及優(yōu)質(zhì)絕緣膜形成技術(shù)的開(kāi)發(fā)。
原子能研究所和產(chǎn)綜研2002年7月開(kāi)始聯(lián)手開(kāi)發(fā),以便聯(lián)合對(duì)上述課題進(jìn)行攻關(guān),其中由產(chǎn)綜研負(fù)責(zé)在碳化硅底板上形成高品質(zhì)單結(jié)晶的培育技術(shù),由原子能研究所負(fù)責(zé)開(kāi)發(fā)晶體管制造技術(shù)。結(jié)果,產(chǎn)綜研在由日本HOYA尖端半導(dǎo)體公司提供的立方體結(jié)晶碳化硅底板上,使用通過(guò)對(duì)原料氣體進(jìn)行熱分解使之在底板上堆積成分元素的化學(xué)氣相成長(zhǎng)法,對(duì)條件進(jìn)行優(yōu)化,成功地形成了優(yōu)質(zhì)的p 型立方體結(jié)晶膜。
原子能研究所利用過(guò)去積累的技術(shù),在這種單結(jié)晶膜上高溫注入離子后,通過(guò)摻雜(磷),部分地形成了n型區(qū)。利用燃燒氫氣進(jìn)行氧化的技術(shù),形成了優(yōu)質(zhì)絕緣氧化膜。由此就解決了長(zhǎng)期懸而未決的技術(shù)課題,成功地制造出了高性能電場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)。
作為晶體管性能指標(biāo)的溝道遷移率,超過(guò)了實(shí)用化標(biāo)準(zhǔn)(200cm2/Vs),達(dá)到了全球最高的230cm2/Vs。以立方體結(jié)晶碳化硅為底板的半導(dǎo)體元件雖說(shuō)不適合于數(shù)kV以上的超高電壓控制,但對(duì)市場(chǎng)規(guī)格最大的數(shù)百V級(jí)家電產(chǎn)品則是最合適的,一旦達(dá)到實(shí)用化,就有望得到良好的節(jié)能效果。另外,由于這種元件放射線能力強(qiáng),因此還有望在航天和原子能產(chǎn)業(yè)發(fā)揮威力。今后,在朝著實(shí)用化進(jìn)一步提高結(jié)晶品質(zhì)和溝道遷移率的同時(shí),還將逐步確立長(zhǎng)期懸而未決的MOSFET驅(qū)動(dòng)所需的最低電壓即“閥值電壓”的控制技術(shù)及絕緣氧化膜的可靠性增強(qiáng)技術(shù)。
日本原子能研究所與獨(dú)立行政法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)綜研),日前成功地聯(lián)合開(kāi)發(fā)出了采用碳化硅半導(dǎo)體底板的晶體管。作為晶體管性能指標(biāo)的溝道遷移率(電子活動(dòng)的難易度),突破了實(shí)用化所要求的標(biāo)準(zhǔn)(200cm2/Vs),達(dá)到了全球最高水平,即 230cm2/Vs。如果碳化硅半導(dǎo)體得以實(shí)現(xiàn),就能開(kāi)發(fā)出比過(guò)去的硅半導(dǎo)體體積更小、耗電量更低的半導(dǎo)體元件?稍陔娏Α㈣F路和家電等各種領(lǐng)域當(dāng)作電力控制元件來(lái)使用。另外,由于抗放射線特性比硅元件高數(shù)十倍,因此在航天和原子能領(lǐng)域也有望用來(lái)“抗放射線輻射”。
碳化硅由硅元素和碳元素構(gòu)成,因元素排列方式的不同、有很多種結(jié)晶類型。其中,立方體單結(jié)晶的電氣特性最好,不過(guò),高品質(zhì)結(jié)晶不易培育,必須開(kāi)發(fā)結(jié)晶生長(zhǎng)技術(shù)。另外,要想制作碳化硅元件,關(guān)鍵在于對(duì)形成pn結(jié)時(shí)必須的導(dǎo)電類型的控制以及優(yōu)質(zhì)絕緣膜形成技術(shù)的開(kāi)發(fā)。
原子能研究所和產(chǎn)綜研2002年7月開(kāi)始聯(lián)手開(kāi)發(fā),以便聯(lián)合對(duì)上述課題進(jìn)行攻關(guān),其中由產(chǎn)綜研負(fù)責(zé)在碳化硅底板上形成高品質(zhì)單結(jié)晶的培育技術(shù),由原子能研究所負(fù)責(zé)開(kāi)發(fā)晶體管制造技術(shù)。結(jié)果,產(chǎn)綜研在由日本HOYA尖端半導(dǎo)體公司提供的立方體結(jié)晶碳化硅底板上,使用通過(guò)對(duì)原料氣體進(jìn)行熱分解使之在底板上堆積成分元素的化學(xué)氣相成長(zhǎng)法,對(duì)條件進(jìn)行優(yōu)化,成功地形成了優(yōu)質(zhì)的p 型立方體結(jié)晶膜。
原子能研究所利用過(guò)去積累的技術(shù),在這種單結(jié)晶膜上高溫注入離子后,通過(guò)摻雜(磷),部分地形成了n型區(qū)。利用燃燒氫氣進(jìn)行氧化的技術(shù),形成了優(yōu)質(zhì)絕緣氧化膜。由此就解決了長(zhǎng)期懸而未決的技術(shù)課題,成功地制造出了高性能電場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)。
作為晶體管性能指標(biāo)的溝道遷移率,超過(guò)了實(shí)用化標(biāo)準(zhǔn)(200cm2/Vs),達(dá)到了全球最高的230cm2/Vs。以立方體結(jié)晶碳化硅為底板的半導(dǎo)體元件雖說(shuō)不適合于數(shù)kV以上的超高電壓控制,但對(duì)市場(chǎng)規(guī)格最大的數(shù)百V級(jí)家電產(chǎn)品則是最合適的,一旦達(dá)到實(shí)用化,就有望得到良好的節(jié)能效果。另外,由于這種元件放射線能力強(qiáng),因此還有望在航天和原子能產(chǎn)業(yè)發(fā)揮威力。今后,在朝著實(shí)用化進(jìn)一步提高結(jié)晶品質(zhì)和溝道遷移率的同時(shí),還將逐步確立長(zhǎng)期懸而未決的MOSFET驅(qū)動(dòng)所需的最低電壓即“閥值電壓”的控制技術(shù)及絕緣氧化膜的可靠性增強(qiáng)技術(shù)。
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