輻射抗擾度測試實質(zhì)上是與輻射發(fā)射測試相反的一個測試過程。在PCB中,信號從源驅(qū)動端出發(fā),傳輸?shù)截?fù)載端,再從負(fù)載端將信號回流傳回至源端,形成信號電流的閉環(huán),即每個信號的傳送都包含著一個環(huán)路。K524G2GACB-A050當(dāng)外界的電磁場穿過此環(huán)路時,就會在這個環(huán)路中產(chǎn)生感應(yīng)電壓,如圖1.36所示。    

    干擾電磁場穿過電路中的環(huán)路,產(chǎn)生感應(yīng)電壓

    圖1.36磁通量穿過環(huán)路產(chǎn)生感應(yīng)電壓   

    單線(單匝)回路中對通過其磁場的感應(yīng)電壓可以根據(jù)式(1。15)計算。由于式中,σ為感應(yīng)電壓(Ⅴ);S為回路面積(m2);E為電場強度(Ⅴ/m);F為電場的頻率(MHz)。

    例如,在一個PCB中存在一個回路面積為⒛cm2的電路,當(dāng)該電路在電場強度為30Ⅴ/m的電磁場中進(jìn)行輻射抗擾度測試時,在150MHz頻點上,該回路中產(chǎn)生的感應(yīng)電壓σ1可以通過式(1.18)計算:

    I/l=sEF/48=0.0020×30×150/48≈200 (mⅤ)

這就是輻射抗擾度測試時,產(chǎn)品中的電路受干擾的原因之一。但是從以上計算結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)這個干擾電床并不高。實踐中也發(fā)現(xiàn)按照這種原理所產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象并不常見⊙更常見的是另一種現(xiàn)象,即與輻射發(fā)射測試實質(zhì)中單極天線或?qū)ΨQ偶極子天線模型所對應(yīng)的相反過程。當(dāng)EUT處于輻射抗擾度測試環(huán)境中時,EUT中的電纜或其他長尺寸導(dǎo)體都會成為接收電磁場的天線,這些電纜或長尺寸導(dǎo)體端口都會感應(yīng)出電壓。同時,電纜或長尺寸導(dǎo)體上會感應(yīng)出電流,感應(yīng)出的電壓通常是共模電壓,這種感應(yīng)出的電流通常是共模電流。例如,一個電纜長度為L的EUT置于自由空間中,自由空間的電場強度為E。,并當(dāng)L≤入〃時,電纜上感應(yīng)出的共模電流J:

    為輻射發(fā)射等效天線的電纜放置在離參考接地平面九的高

度(m);風(fēng)為自由空間中的電場強度(Ⅴ/m);E(而)為被地平面衰減后的等效電場強度這也就意味著產(chǎn)品中的信號線、信號電纜越靠近機柜壁或參考接地板,其所受到的輻射影響就越小。

    電纜上感應(yīng)出的共模電流將會沿著電纜及電纜所在的端口注人到產(chǎn)品中,包括內(nèi)部電路中,這種共模電流干擾正常工作電路的原理與其他瞬態(tài)共模電流干擾電路的原理一樣。