【原因分析】HAT2192WP-EL-E

    關(guān)于電源口傳導(dǎo)騷擾測(cè)試的原理,可以參考案例3中的描述。圖2.舛所示的測(cè)試配置圖可以用圖2.26表示其原理。

    圖2.26 EUT接地線直接接地板時(shí)的原理圖

    圖2.26所示為電源口傳導(dǎo)騷擾測(cè)試時(shí),被測(cè)設(shè)各(EUT)、線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN)、接收機(jī)之間的連接關(guān)系。圖2.26中箭頭線表示共模傳導(dǎo)騷擾的電流,它在25Ω、兩個(gè)50Ω電阻并聯(lián)電阻上產(chǎn)生的壓降就是所測(cè)量到的共模導(dǎo)騷擾電壓結(jié)果(差模傳導(dǎo)騷擾與本案例無關(guān),不在圖2.26中示出)。由圖2.26可知,在該測(cè)試配置的情況下,電源線、LISN、EUT、EUT接地線及參考接地板之間形成了一個(gè)較大的環(huán)路(見圖2.26中虛線)。關(guān)于環(huán)路在EMC中的意義已經(jīng)在本書其他案例中提及(如案例29、77等)。

    根據(jù)電磁理論,環(huán)路既可以成為輻射必要條件中的天線,也可以成為接收干擾的環(huán)路接收天線:當(dāng)環(huán)路中的磁通發(fā)生變化時(shí),將在環(huán)路中感應(yīng)出電流,其大小與閉環(huán)面積成正比,而且對(duì)于特定大小的環(huán)路,環(huán)路接收天線將在特定的頻率上產(chǎn)生諧振。當(dāng)圖2.26中的大環(huán)路有感應(yīng)電流時(shí),必定增大流過LIsN中犭Ω電阻的電流,即LISN檢測(cè)

到更大的傳導(dǎo)騷擾。傳導(dǎo)騷擾測(cè)試在屏蔽室中進(jìn)行。環(huán)路接收的干擾是從哪里來的呢?實(shí)際是來自EL丌通過其殼體和信號(hào)電纜產(chǎn)生的輻射,如圖2.刀所示(測(cè)試中已經(jīng)排除外界及輔助設(shè)備的影響)。