用半導體放電管做保護電路時并聯(lián)電容對浪涌測試結(jié)果的影響

   【現(xiàn)象描述】G7922R61U

   某型工業(yè)控制機在進行串行接口的工作地與機殼之間的共模浪涌測試時(電壓波形為10/70Ou,電流波形為S/320,測試內(nèi)阻為翎Ω,測試電壓為1kⅤ,電流為⒛A),發(fā)現(xiàn)信號地與保護大地之間的浪涌保護器件TSS(半導體放電管,型號BS8OO0N-C-F)出現(xiàn)了 短路損壞,從而導致整機浪涌測試不能通過。

   對比浪涌的測試等級與保護器件通流能力規(guī)格參數(shù),保護器件的最大浪涌電壓和通流能力分別為6kⅤ和150A(電壓波形為10/7OO、電流波形為s/320u、測試內(nèi)阻為碉Ω),其電壓電流參數(shù)遠遠超過測試等級,在常規(guī)使用條件下,按理說不應(yīng)該出現(xiàn)損壞,然而為什么在此工業(yè)控制機中出現(xiàn)了異常損壞呢?圖4.118所示的是現(xiàn)有方案的等效電路圖,圖中電路為被測產(chǎn)品串行接口工作地(圖4,118中的AGND)與機殼(圖4.118中的EGND)之間的保護電路。