初始的電場能容性耦合到表面積較大的網(wǎng)絡(luò)上
發(fā)布時間:2019/1/10 21:59:02 訪問次數(shù):885
靜電放電時,通常通過以下幾種方式影響電子設(shè)備。 .
(1)初始的電場能容性耦合到表面積較大的網(wǎng)絡(luò)上。并在離ESD電弧100mm處產(chǎn)生高達(dá)數(shù)kⅤ/m的電場。LFE3-150EA-8FN1156I
(2)電弧注入的電荷、電流可以產(chǎn)生以下?lián)p壞和故障:
①穿透元器件的內(nèi)部薄的絕緣層,損毀MOSFET和CMOS的元器件柵極;
②CMOs器件中的觸發(fā)器鎖死;
③短路反偏的PN結(jié);
④短路正向偏置的PN結(jié);
⑤熔化有源器件內(nèi)部的焊接線或鋁線。
(3)靜電放電電流導(dǎo)致導(dǎo)體上產(chǎn)生的電壓脈沖,這些導(dǎo)體可能是電源或地、信號線,這些電壓脈沖將進(jìn)入與這些網(wǎng)絡(luò)相連的每一個元器件。
(4)電弧會產(chǎn)生一個頻率范圍在1~500MHz的強磁場,并感性耦合到鄰近的每一個布線環(huán)路中,在離ESD電弧100mm遠(yuǎn)處的地方產(chǎn)生高達(dá)數(shù)十安每米的磁場。
(5)電弧輻射的電磁場會耦合到長的信號線上,這些信號線起到了接收天線的作用。在此產(chǎn)生中當(dāng)向R]-0~s的金屬外殼進(jìn)行接觸放電時,RJ-笱通過接地線接至參考地,接觸放電時會產(chǎn)生一個瞬態(tài)的大放電電流,該電流將在附近產(chǎn)生一個較大的電磁場,如果此時暴露在該電磁場中的器件或信號比較敏感,系統(tǒng)就會出現(xiàn)不正,F(xiàn)象。而此產(chǎn)品中被干擾的信號線距RJ-笱上的靜電放電點約3cm的距離,可見,在此案例中的問題主要是以上幾種靜電放電對于設(shè)備影響種類中的最后一種,即電弧輻射的電磁場會耦合到長的信號線上,這些信號線起到了接收天線的作用。并聯(lián)旁路電容后,一部分耦合到的能量被電容濾除,從而保護(hù)了器件接收的信號。
靜電放電時,通常通過以下幾種方式影響電子設(shè)備。 .
(1)初始的電場能容性耦合到表面積較大的網(wǎng)絡(luò)上。并在離ESD電弧100mm處產(chǎn)生高達(dá)數(shù)kⅤ/m的電場。LFE3-150EA-8FN1156I
(2)電弧注入的電荷、電流可以產(chǎn)生以下?lián)p壞和故障:
①穿透元器件的內(nèi)部薄的絕緣層,損毀MOSFET和CMOS的元器件柵極;
②CMOs器件中的觸發(fā)器鎖死;
③短路反偏的PN結(jié);
④短路正向偏置的PN結(jié);
⑤熔化有源器件內(nèi)部的焊接線或鋁線。
(3)靜電放電電流導(dǎo)致導(dǎo)體上產(chǎn)生的電壓脈沖,這些導(dǎo)體可能是電源或地、信號線,這些電壓脈沖將進(jìn)入與這些網(wǎng)絡(luò)相連的每一個元器件。
(4)電弧會產(chǎn)生一個頻率范圍在1~500MHz的強磁場,并感性耦合到鄰近的每一個布線環(huán)路中,在離ESD電弧100mm遠(yuǎn)處的地方產(chǎn)生高達(dá)數(shù)十安每米的磁場。
(5)電弧輻射的電磁場會耦合到長的信號線上,這些信號線起到了接收天線的作用。在此產(chǎn)生中當(dāng)向R]-0~s的金屬外殼進(jìn)行接觸放電時,RJ-笱通過接地線接至參考地,接觸放電時會產(chǎn)生一個瞬態(tài)的大放電電流,該電流將在附近產(chǎn)生一個較大的電磁場,如果此時暴露在該電磁場中的器件或信號比較敏感,系統(tǒng)就會出現(xiàn)不正常現(xiàn)象。而此產(chǎn)品中被干擾的信號線距RJ-笱上的靜電放電點約3cm的距離,可見,在此案例中的問題主要是以上幾種靜電放電對于設(shè)備影響種類中的最后一種,即電弧輻射的電磁場會耦合到長的信號線上,這些信號線起到了接收天線的作用。并聯(lián)旁路電容后,一部分耦合到的能量被電容濾除,從而保護(hù)了器件接收的信號。
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