空間限制電流法
發(fā)布時間:2019/4/10 20:41:41 訪問次數(shù):7264
空間限制電流法
第二種測量載流子遷移率的方法是無陷阱條件下穩(wěn)態(tài)空間限制電流測量,該方法基于在暗態(tài)下的電流-電壓(⑺曲線阝叨。通常地,在低電壓時,曲線為歐姆特性,是線性關系;在高電壓時,由于電荷由電極注人,曲線變?yōu)榭臻g電荷限制特性。如果電極與有機層的接觸為歐姆型,同時電流是傳輸限制型而非注人限制型,空間電荷限制電流可以用本章式,z為樣品厚度,參數(shù)@是與載流子被俘獲相關因子,即自由載流子占總載流子的比例,F是電場強度。當電流符合sCLC時,丿應該與電場強度平方成正比,且與樣品厚度相關。當@為1時,電流呈現(xiàn)無陷阱情形 下的空間電荷限制電流。假設電極與有機材料之間為歐姆接觸,沒有注人勢壘,則載流子遷移率可通過上述公式獲得。從另一個角度看,如果已知材料載流子遷移率,可根據(jù)計算出電流。若計算的電流與實驗值相同,則認為電極與材料的接觸為歐姆接觸,請參見2,5,7節(jié)。
上述公式適用于載流子遷移率不隨電場變化的情形。由于有機材料通常處于無序狀態(tài),其遷移率大小依賴于電場強度,并遵循PoolcˉFrenkel方程。將Poo1e-Frenke1關系引人,上述公式可以修改為為電場為0時的載流子遷移率。如果遷移率與電場無關。利用式@,17o和式⑿,17D對實驗測量的r~/曲線進行擬合,可以獲得載流子遷移率。
空間限制電流法
第二種測量載流子遷移率的方法是無陷阱條件下穩(wěn)態(tài)空間限制電流測量,該方法基于在暗態(tài)下的電流-電壓(⑺曲線阝叨。通常地,在低電壓時,曲線為歐姆特性,是線性關系;在高電壓時,由于電荷由電極注人,曲線變?yōu)榭臻g電荷限制特性。如果電極與有機層的接觸為歐姆型,同時電流是傳輸限制型而非注人限制型,空間電荷限制電流可以用本章式,z為樣品厚度,參數(shù)@是與載流子被俘獲相關因子,即自由載流子占總載流子的比例,F是電場強度。當電流符合sCLC時,丿應該與電場強度平方成正比,且與樣品厚度相關。當@為1時,電流呈現(xiàn)無陷阱情形 下的空間電荷限制電流。假設電極與有機材料之間為歐姆接觸,沒有注人勢壘,則載流子遷移率可通過上述公式獲得。從另一個角度看,如果已知材料載流子遷移率,可根據(jù)計算出電流。若計算的電流與實驗值相同,則認為電極與材料的接觸為歐姆接觸,請參見2,5,7節(jié)。
上述公式適用于載流子遷移率不隨電場變化的情形。由于有機材料通常處于無序狀態(tài),其遷移率大小依賴于電場強度,并遵循PoolcˉFrenkel方程。將Poo1e-Frenke1關系引人,上述公式可以修改為為電場為0時的載流子遷移率。如果遷移率與電場無關。利用式@,17o和式⑿,17D對實驗測量的r~/曲線進行擬合,可以獲得載流子遷移率。