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  為了研究電子元器件的可靠性，就要掌握元器件失效的客觀規(guī)律，分析產(chǎn)品的失效原因，以便進(jìn)一步提高元器件的可靠性。

   雖然每個(gè)電子元器件的失效是個(gè)隨機(jī)事件，并且是偶然發(fā)生的，但大量元器件的失效卻呈現(xiàn)出一定的規(guī)律性。從產(chǎn)品的壽命特征來(lái)分析，大量使用和試驗(yàn)結(jié)果表明，電子元器件失效率曲線的特征是兩端高，中間低，呈浴盆狀，習(xí)慣稱(chēng)為“浴盆曲線”，其形狀如早期失效期的失效率分布函數(shù)與m<l的威布爾(Weibull)分布函數(shù)所描述的曲線相同。

    偶然失效期出現(xiàn)在早期失效期之后，是產(chǎn)品的正常工作期，其特點(diǎn)是失效率比早期失 效率小得多，且產(chǎn)品穩(wěn)定。失效率幾乎與時(shí)間無(wú)關(guān)，可近似為一常數(shù)。通常所指的使用壽 命就是這一時(shí)期，這個(gè)時(shí)期的失效由偶然不確定因素引起，失效發(fā)生的時(shí)間也是隨機(jī)的， 故稱(chēng)為偶然失效期。 偶然失效期產(chǎn)品的失效規(guī)律符合指數(shù)分布規(guī)律。

  從曲線上可以看出，電子元器件的失效率隨時(shí)間的發(fā)展變化大致可以分為三個(gè)階段：即早期失效期、偶然失效期、耗損（磨損）失效期。在不同時(shí)期產(chǎn)品呈現(xiàn)不同的失效規(guī)律，盡管給電子元器件施加的應(yīng)力沒(méi)有變。

   早期失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品開(kāi)始工作的初期，其特點(diǎn)是失效率高，可靠性低，且產(chǎn)品隨著試驗(yàn)時(shí)間或工作時(shí)間的增加失效率迅速下降。產(chǎn)品發(fā)生早期失效的原因主要是設(shè)計(jì)、制造工藝上的缺陷或者元件、材料、結(jié)構(gòu)上的缺陷所致（例如，元器件所使用的材料純度達(dá)不到要求，或制造中混入雜質(zhì)、產(chǎn)生的缺陷和工藝控制不嚴(yán)格等）。早期失效的元器件或材料一般可以通過(guò)加強(qiáng)對(duì)原材料和工藝的檢驗(yàn)，或通過(guò)可靠性篩選等辦法來(lái)加以淘汰。但最根本的辦法是找出導(dǎo)致早期失效的原因，采取相應(yīng)措施加以消除，從而使失效率降低且產(chǎn)品穩(wěn)定。