對(duì)于那些比較復(fù)雜的器件,如集成電路,實(shí)際上起主導(dǎo)作用的失效機(jī)理往往是復(fù)雜的,甚至有些是事先無法預(yù)知的,如果用單一的加速變量來進(jìn)行加速,其結(jié)果是不夠全面的;同時(shí),在失效機(jī)理不太明朗的情況下,采用加速外推的方法,其結(jié)果必然帶來大的誤差。也就是說,對(duì)于具有多種失效機(jī)理的產(chǎn)品,理想的加速壽命試驗(yàn)是難以實(shí)現(xiàn)的。

   加速壽命試驗(yàn)只考慮了試驗(yàn)的加速性方面,而沒有考慮元器件的應(yīng)用問題。實(shí)際上,用戶把這類器件用在設(shè)備上,預(yù)期保存和運(yùn)用時(shí)間很長(zhǎng)。因此,對(duì)于元器件制造者和用戶來說,在正常應(yīng)力或使用應(yīng)力下的長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)也是必須的和重要的,因?yàn)樗苷鎸?shí)反映元器件在使用條件下的壽命特性。

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   加速壽命試驗(yàn)的基本假設(shè)是在高應(yīng)力條件下的失效機(jī)理與在正常應(yīng)力條件下的失效機(jī)理相同。此外試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析需要選擇或假定應(yīng)力與壽命之間的函數(shù)關(guān)系。實(shí)際上,高應(yīng)力可能會(huì)引入在正常條件下不會(huì)發(fā)生的新的失效模式,當(dāng)有幾種不同應(yīng)力共同作用時(shí),各種失效模式對(duì)應(yīng)應(yīng)力有不同的敏感性,以致各失效模式的發(fā)生概率會(huì)隨應(yīng)力的改變雨改變。也就是說,加速壽命試驗(yàn)的基本假設(shè)通常是很難保證的。、應(yīng)力-壽命關(guān)系模型有潛在的多樣性、復(fù)雜性。試驗(yàn)條件也是千變?nèi)f化的。由加速壽命試驗(yàn)所估計(jì)的壽命與在現(xiàn)場(chǎng)觀察到的壽命可能差別很大,有可能差別達(dá)到一個(gè)數(shù)量級(jí)甚至更大。因此,除非試驗(yàn)條件與現(xiàn)場(chǎng)使用條件很接近且試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析和建模恰當(dāng),否則從加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)外推所估計(jì)的可靠性只能看作是固有可靠性的一種近似,不應(yīng)看作為現(xiàn)場(chǎng)可靠性指標(biāo)。雖然存在局限性,但并不影響加速壽命試驗(yàn)的有用性。一般地,加速壽命試驗(yàn)可用來識(shí)別問題、對(duì)不同的設(shè)計(jì)方案以及獲得元器件可靠性的粗略估計(jì)。