試驗(yàn)標(biāo)硅

   GJB548方法1014密封試驗(yàn)主要是針對(duì)微電子器件的密封性檢測(cè);GJB360方法112密封試驗(yàn)主要針對(duì)電子及電器元件的內(nèi)腔為真空狀態(tài)或含有空氣或其他氣體的元件的密封性檢測(cè);而GJB128方法1017主要是針對(duì)半導(dǎo)體分立器件。

H27UBG8T2BTR

   對(duì)于電連接器密封,由于電連接器密封特性(施加高壓、大漏率等特點(diǎn))使檢測(cè)精度最高的氦質(zhì)譜檢測(cè)法無(wú)法進(jìn)行,取而代之是按GJB1217A~⒛09方法1008(空氣泄漏法),該方法是在安裝好的固定連接器前后之間產(chǎn)生一個(gè)氣壓差,用一個(gè)裝在試驗(yàn)樣品低氣壓端的檢測(cè)器測(cè)出通過(guò)試驗(yàn)樣品密封處的泄漏程度。調(diào)研后發(fā)現(xiàn)行業(yè)內(nèi)電連接器密封試驗(yàn)按照GJB1217A~⒛⒆方法1008試驗(yàn)時(shí)存在諸多問(wèn)題,如氣泡直徑及頻率難以準(zhǔn)確確定、持續(xù)加壓、檢測(cè)時(shí)間未明確、檢測(cè)靈敏度低等,容易造成試驗(yàn)結(jié)果不準(zhǔn)確,導(dǎo)致經(jīng)常漏判或誤判。因此,業(yè)內(nèi)急需一種靈敏度高、檢測(cè)準(zhǔn)確性好的檢測(cè)方法對(duì)電連接器的密封性迸行檢測(cè)。