DPA的目的利應(yīng)用方向

   DPA技術(shù)的目的

   通過對給定產(chǎn)品批的良好樣品進行的一系列非破壞性或破壞性試驗,揭示產(chǎn)G2992F1U品存在的設(shè)計和生產(chǎn)工藝上的問題,而這些問題通常不能通過常規(guī)檢測和篩選試驗發(fā)現(xiàn)或剔除。DPA的目的通常是為了確定被檢驗批產(chǎn)品是否存在可導(dǎo)致產(chǎn)品退化和致命失效的異�；蛉毕�。

   DPA技術(shù)的應(yīng)用方向

   (l)用于電子元器件批質(zhì)量一致性的檢驗及生產(chǎn)工藝評價。通過DPA技術(shù)可以有效地保證電子元器件批質(zhì)量的一致性和評價生產(chǎn)工藝的水平。

   (2)用于電子元器件生產(chǎn)工藝,特別是關(guān)鍵工藝的質(zhì)量監(jiān)控及半成品的質(zhì)量分析與控制。根據(jù)電子元器件生產(chǎn)工藝的特點,對關(guān)鍵工藝提取關(guān)鍵監(jiān)控項目,可以有效地保證半成品的質(zhì)量水平,從inj提高電子元器件的可靠性水平。

   (3)用控制與產(chǎn)品設(shè)計、結(jié)構(gòu)、裝配等工藝相關(guān)的失效模式。從產(chǎn)品的失效模式特點出發(fā),有效地反饋到工藝各環(huán)節(jié),通過相應(yīng)的DPA技術(shù)項目達到控制相關(guān)失效模式的目的。

   (4)用于電子元器件的可靠性鑒定。對于高可靠性電子元器件的可靠性鑒定,不僅要進行功能測試、物理試驗、環(huán)境機械適應(yīng)性試驗、可靠性壽命試驗等,還應(yīng)該對其潛在的工藝缺陷進行評估。

   (5)用于電子元器件的交收試驗。電子元器件生產(chǎn)批質(zhì)量雖然存在一定的差異性,但由于某一批存在工藝異常導(dǎo)致系統(tǒng)或工程失效的后果是不可想象的,因此,開展電子元器件的交收檢驗是非常有必要的。另外,目前市場上有各類假冒產(chǎn)品或翻新產(chǎn)品,這些產(chǎn)品的危害可想而知,DR⒋技術(shù)作為對產(chǎn)淠1設(shè)計、結(jié)構(gòu)、材料和土產(chǎn)工藝檢查的有力工具,自然是電子元器件的交收試驗的旨要手段。