數(shù)字集成電路的參數(shù)測(cè)試方法H75N03U

   數(shù)字集成電路參數(shù)比較類似,但還是具有一定的差異。一般數(shù)字集成電路靜態(tài)參數(shù)包括輸入高低電平、輸入高低漏電、輸出高阻漏電、輸出高低電平電壓、靜態(tài)電流等;動(dòng)態(tài)參數(shù)包括輸入輸出電容、工作頻率、工作電流等;開關(guān)參數(shù)包括傳輸延遲時(shí)間、高低電平(高阻)轉(zhuǎn)換時(shí)間、建立保持時(shí)間等。

   連接性測(cè)試方法

  連接性測(cè)試主要是用于判斷器件各引腳是否和ATE機(jī)臺(tái)之間己經(jīng)形成電氣連接。其原理主要是通過ATE數(shù)字通道對(duì)被測(cè)器件的引腳施加一個(gè)電流,用于測(cè)量被測(cè)器件引腳上的鉗位二極管壓降。原理如圖⒋2所示。

   圖⒋2 連接性測(cè)試原理

   以流入器件的電流為正方向,流出器件為負(fù)。器件內(nèi)部具有對(duì)地的保護(hù)二極管時(shí),連接性測(cè)試電流應(yīng)為負(fù);從地上輸入10∞叭電流,如果引腳連接良好,必然會(huì)在與引腳端相連接的通道上形成一個(gè)二極管壓降,當(dāng)測(cè)量連接性電壓為超量程值時(shí),則證明引腳沒有連接好,是開路情況,如果二極管壓降為接近0V,表明器件放置不太好,引腳與地搭接到一起,對(duì)地短路了。