測試信號合成方法

   ATE的測試信號是由測試時序(tc哎timing)和測試向量(℃“rctor)合成的,如圖4-16所示。ACM7060-701-2PL-TL01

   測試時序定義了DUT的信號周期和測試波形,以及每個測試波形相應(yīng)的定時沿(cdge)的時間點。測試向量是許多代表不同測試波形的代碼的集合,圖中的“001214…”就是一段組合好的測試量,“0”“1”“2”“4”各代表一個測試波形,其中“0”代表的是一個單脈沖信號,“1”代表的是低電平,“2”代表的是一個雙脈沖信號。這些波形都有各自精確的定

時沿,保證了測試信號的準(zhǔn)確性。由時序和向量合成的測試信號經(jīng)驅(qū)動電路放大后,可以產(chǎn)生芯片測試所需要的各種激勵信號,這就是ATE測試信號的合成原理。

    執(zhí)行測試指令時,ATE根據(jù)測試程序中預(yù)先存儲的時序和向量,合成完整的測試圖形,利用測試頭的電子驅(qū)動電路產(chǎn)生激勵信號,經(jīng)測試接口板和測試座送入DUT,同時對DUT的輸出進(jìn)行實時采樣,將采樣結(jié)果與期望值進(jìn)行比較,得出“Pass/Fail”結(jié)果,并利用誤碼存儲器(Error Memory)記錄詳細(xì)的誤碼位置,以便開展進(jìn)一步的調(diào)試和分析工作,如圖4-17所示。